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PicoFemto掃描電鏡原位高溫拉伸臺(tái)，掃描電鏡原位高溫拉伸臺(tái)集成了力學(xué)拉伸模塊以及高溫環(huán)境模塊，可以實(shí)現(xiàn)在掃描電鏡中對(duì)樣品原位加熱的同時(shí)進(jìn)行拉伸實(shí)驗(yàn)。本產(chǎn)品采用新一代的高溫拉伸方案，加熱臺(tái)直接貼緊樣品，保證了溫度的準(zhǔn)確度和穩(wěn)定性。 

• 性能指標(biāo)：

△ 兼容型號(hào)掃描電鏡，兼容EBSD功能；

△ 保證電鏡原有真空度；

△ 最大載荷：5000 N；

△ 最高加熱溫度：1200攝氏度；

△ 載荷分辨率：優(yōu)于滿量程的千分之一；

△ 拉伸速率：最高1.5 mm/min。 

產(chǎn)品主要應(yīng)用領(lǐng)域

1、金屬及鍍層：用于研究晶粒變化、鍍層結(jié)合情況、高溫形變及松弛機(jī)理、晶粒旋轉(zhuǎn)及織構(gòu)變化。

2、復(fù)合材料：用于研究材料韌性及強(qiáng)度。

3、纖維：研究材料強(qiáng)度。

4、聚合物：用于研究塑性流動(dòng)及失效機(jī)制。

5、脆性材料：研究微小裂縫的起源及鈍化現(xiàn)象。

6、地質(zhì)學(xué)：研究巖石的熱壓縮實(shí)驗(yàn)及冰巖芯的冷變形機(jī)制。