目錄:北京利曼科技有限公司>>X射線衍射儀>>殘余奧氏體分析儀>> AREX L 殘余奧氏體分析
| 參考價(jià) | 面議 |
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更新時(shí)間：2023-12-19 10:40:16瀏覽次數(shù)：13135評(píng)價(jià)
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| 價(jià)格區(qū)間 | 100萬-150萬 | 儀器種類 | 單晶衍射儀 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 冶金,航天,汽車,電氣 |
X 射線衍射法是測(cè)量鋼體中殘余奧氏體含量的有效方法，而且是能夠測(cè)量殘余奧氏體百分比含量低至0.5%的方法。根據(jù) ASTM E975 的X射線測(cè)量近無規(guī)結(jié)晶取向鋼中殘余奧氏體的標(biāo)準(zhǔn)方法，AREX L 能夠很輕松檢測(cè)出鋼體中殘余奧氏體的含量，同時(shí)具有良好的檢出限、精度高、度好等優(yōu)點(diǎn)，并且操作簡(jiǎn)單，安全高效。
主要特點(diǎn)
1、可測(cè)奧氏體220/311、鐵素體200/211的衍射峰值強(qiáng)度，符合 ASTM E975 標(biāo)準(zhǔn)；
2、多衍射峰測(cè)量方式能夠減少晶體優(yōu)化取向帶來的影響；
3、使用精密的自動(dòng)反饋控制電路獲得很高的X射線發(fā)生器穩(wěn)定性；
4、自動(dòng)調(diào)整高電壓與電流輸出脈動(dòng)值；
5、配備大功率、的玻璃（陶瓷）X 射線管；
6、高聚焦單毛細(xì)管準(zhǔn)直器，高分辨率CCD探測(cè)器。
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