應(yīng)力雙折射 參考價：面議
Hinds Instruments 的ExicorOIA 是透鏡、平行面光學(xué)、曲面光學(xué)在正常和斜入角度評估的主要應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)。該系統(tǒng)是建立在Hinds l...
應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng) 參考價：面議
Hinds 儀器的應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)Exico-150AT是Exicor®雙折射測量系統(tǒng)系列產(chǎn)品的工作平臺。 該系統(tǒng)具有足夠的多樣性，在生產(chǎn)車間和研發(fā)...
應(yīng)力雙折射檢測 參考價：面議
在硅太陽能電池板的生產(chǎn)過程中，硅晶體中的應(yīng)力在制作過程中往往沒有被檢測到，我們描述了一種測量硅錠的應(yīng)力雙折射檢測，它可以是方形的，也可以是生長的，然后被鋸成硅片...
光學(xué)玻璃應(yīng)力測量 參考價：面議
光學(xué)玻璃應(yīng)力測量占地小-大限度地減少設(shè)備所需的工廠空間；平臺設(shè)計-使可測量面積盡可能大；強大的自動化-質(zhì)量階段和硬件正常運行時間。
美國Hinds Instruments 參考價：面議
美國Hinds Instruments 的Exicor®雙折射測量技術(shù)于1999年推出，型號為150AT，為客戶提供技術(shù)，具生產(chǎn)價值的測量雙折射的能力...
殘余應(yīng)力檢測 參考價：面議
150AT 應(yīng)力雙折射系統(tǒng)是Hinds應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)家族系列產(chǎn)品，用于殘余應(yīng)力檢測。該應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)既可作為實驗室科研探索測量光學(xué)組件應(yīng)力分布測量，也可...
殘余應(yīng)力測量 參考價：面議
該系統(tǒng)利用PEM調(diào)制光束的偏振狀態(tài)、先進探測和解調(diào)電子來測量光學(xué)如何改變偏振狀態(tài)。這就導(dǎo)致了一個偏振狀態(tài)相對于另一個偏振狀態(tài)的光延遲測量結(jié)果是90°。...
Hinds 參考價：面議
美國Hidns Instruemtns -LCD材料的超低階雙折射測量在與眾多的光學(xué)材料制造商合作多年后，Hinds 儀器公司推出了Exicor 1500AT系...(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
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