三箱式溫度沖擊試驗箱有三個試驗空間，分為高溫區(qū)、低溫區(qū)和測試區(qū)，也稱待測品不動式溫度沖擊試驗箱，試樣放在測試箱內(nèi)進(jìn)行高低溫沖擊試驗，模擬產(chǎn)品經(jīng)過溫度的急劇變化造成的物理變化。用于檢測根據(jù)元器件、部件及設(shè)備疲勞損傷引起的失效。產(chǎn)品性能符合MIL、IEC、GB、JIS、JEDEC等各種和企業(yè)檢測標(biāo)準(zhǔn)，是應(yīng)力篩選試驗和環(huán)境適應(yīng)性驗證的*手段。

?三箱式溫度沖擊試驗箱有三個試驗空間，分為高溫區(qū)、低溫區(qū)和測試區(qū)，也稱待測品不動式溫度沖擊試驗箱，試樣放在測試箱內(nèi)進(jìn)行高低溫沖擊試驗，模擬產(chǎn)品經(jīng)過溫度的急劇變化造成的物理變化。用于檢測根據(jù)元器件、部件及設(shè)備疲勞損傷引起的失效。產(chǎn)品性能符合MIL、IEC、GB、JIS、JEDEC等各種和企業(yè)檢測標(biāo)準(zhǔn)，是應(yīng)力篩選試驗和環(huán)境適應(yīng)性驗證的*手段。

三箱式溫度沖擊試驗箱標(biāo) 準(zhǔn)：

GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件；GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗A：低溫；GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗B：高溫；GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 總則；GJB 150.3A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分：高溫試驗；GJB 150.4A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分：低溫試驗；GJB 150.5A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第5部分：溫度沖擊試驗GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗方法 方法107 溫度沖擊試驗；

SETH能夠提供有效容積50L至1000L的SET或SEL系列的溫度沖擊標(biāo)準(zhǔn)試驗箱，也可以根據(jù)用戶需求定制更大容積的沖擊試驗箱。該系列根據(jù)用戶場地和不同的試驗需求分為水平結(jié)構(gòu)、垂直結(jié)構(gòu)以及三箱式，該系列具備提供客戶一箱多用功能，可以滿足GJB150.5-2009中的兩種試驗方法。

沖擊溫度范圍：-65℃~+200℃

溫度恢復(fù)時間：≤ 5min

溫度切換時間：≤10s

 

型號說明
SET：產(chǎn)品系列號      A\B\C：工作室容積（單位：L）

SEL：結(jié)構(gòu)方式：L表示兩箱提籃式     T：結(jié)構(gòu)方式：T表示三箱式

3\4\5表示溫度沖擊范圍；

型號(CM)		SET-A	SET-B	SET-C	SET-D	SET-G
內(nèi)部尺寸		40×35×35	50×50×40	60×50×50	70×60×60	80×70×60
外部尺寸		140×165×165	150×190×175	160×190×185	170×240×195	180×260×200
結(jié)構(gòu)		三廂式（預(yù)冷箱）（預(yù)熱箱）（測試箱）
氣門裝置		強(qiáng)制的空氣裝置氣門
內(nèi)箱材質(zhì)		SUS#304不銹鋼
外箱材質(zhì)		冷軋鋼板靜電噴塑
冷凍系統(tǒng)		機(jī)械壓縮二元式 復(fù)疊制冷方式
轉(zhuǎn)換時間		＜10Sec
溫度恢復(fù)時間		＜5min
溫度偏差		±2℃
溫度均勻度		＜2℃
溫度波動度		±0.5
冷卻方式		水冷
駐留時間		30 min
溫度范圍	預(yù)熱溫度	+60～200℃（40min）
	高溫沖擊	+60～150℃
	預(yù)冷溫度	+20℃～-80℃（70min）
	低溫沖擊	-10℃～-40℃/-55℃/-65℃
	溫度傳感器	JIS RTD PT100Ω × 3 (白金傳感器)
	控制器	液晶顯示觸摸屏PLC控制器
	控制方式	靠積分飽和PID，模糊算法 平衡式調(diào)溫P.I.D + P.W.M + S.S.R
標(biāo)準(zhǔn)配置		附照明玻璃窗口1套、試品架2個、測試引線孔1個
安全保護(hù)		漏電、短路、超溫、缺水、電機(jī)過熱、壓縮機(jī)超壓、超載、過電流保護(hù)
電源電壓		AC380V 50Hz三相四線+接地線