福祿克Raytek® MP150 高速線掃描紅外測(cè)溫儀 參考價(jià)：面議
福祿克Raytek® MP150 高速線掃描紅外測(cè)溫儀雷泰MP150紅外行掃描儀是專為使用在高要求的工業(yè)環(huán)境中使用，并可以測(cè)得運(yùn)動(dòng)物體的準(zhǔn)確溫度圖像。...
福祿克Raynger 3i Plus手持式紅外測(cè)溫儀 參考價(jià)：面議
福祿克Raynger 3i Plus手持式紅外測(cè)溫儀-華普通用Raytek® Raynger 3i Plus 高溫手持式紅外測(cè)溫儀設(shè)計(jì)用于滿足眾多工業(yè)...
日本Otsuka膜厚測(cè)量用多通道光譜儀MCPD系列 參考價(jià)：面議
日本Otsuka膜厚測(cè)量用多通道光譜儀MCPD系列分光光譜儀種類MCPD-9800：高動(dòng)態(tài)范圍分光MCPD-6800：紫外/可見/近紅外光分光光譜儀MCPD-7...
日本Otsuka顯微分光膜厚儀OPTM SERIES 參考價(jià)：面議
日本Otsuka顯微分光膜厚儀OPTM SERIES頭部集成了薄膜厚度測(cè)量所需功能通過顯微光譜法測(cè)量高精度絕對(duì)反射率（多層膜厚度，光學(xué)常數(shù)）1點(diǎn)1秒高速測(cè)量顯微...
德國SPECTRUMA GDA 750 HR輝光放電光譜儀 參考價(jià)：面議
德國SPECTRUMA GDA 750 HR輝光放電光譜儀GDOES光譜儀GDA 550 HR和GDA 750 HR是*大的GDOES光譜儀，非常適合研發(fā)任務(wù)。...
德國SPECTRUMA GDA 150 HR輝光放電質(zhì)譜儀 參考價(jià)：面議
德國SPECTRUMA GDA 150 HR輝光放電質(zhì)譜儀GDA 150 HR和GDA 650 HR GDOES光譜儀是用于質(zhì)量控制和研究的強(qiáng)大工具，旨在處理全...
導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)IPC-650M系列特點(diǎn)：高精度、寬范圍的測(cè)量微小電阻在高、低溫循環(huán)沖擊下，對(duì)焊接連接部、接插件連接部以及通 路電阻進(jìn)行高精度連續(xù)測(cè)試，檢測(cè)電阻...
表面絕緣電阻測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
表面絕緣電阻測(cè)試系統(tǒng)IPC-650S系列產(chǎn)品特點(diǎn)：靈活的、多通道分組測(cè)試能力可根據(jù)測(cè)試不同的需求，建立多組測(cè)試模式，在1 - 4個(gè)環(huán)境試驗(yàn)箱里測(cè)試不同的樣品
Rohs2.0 新增4種鄰苯二甲酸酯快速檢測(cè)方案 參考價(jià)：面議
Rohs2.0 新增4種鄰苯二甲酸酯快速檢測(cè)方案這套HP2000-GC系統(tǒng)能做20種鄰苯的檢測(cè)，滿足鄰苯檢測(cè)需求，這個(gè)系統(tǒng)除了做鄰苯之外，還可以做honglin...
德國徠卡金相顯微鏡DM2700M 參考價(jià)：面議
德國徠卡金相顯微鏡DM2700M超高亮度，高功率LED照明，為用戶提供一個(gè)恒定色溫4500K明場(chǎng)，暗場(chǎng)，干涉相襯和偏光。此外，內(nèi)置的斜照明技術(shù)，用戶可以體驗(yàn)到更...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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