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上海樹信儀器儀表有限公司

涂層測厚儀,超聲波測厚儀,光澤度儀,哈納、羅威邦、哈希水質(zhì)分析儀

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德國EPK MiniTest1100涂鍍層測厚儀

  • 公司名稱:
  • 更新時間:
  • 所 在 地:
  • 生產(chǎn)地址:
  • 瀏覽次數(shù):
  • 上海樹信儀器儀表有限公司
  • 2024-08-28 15:09:15
  • 上海市
  • 德國
  • 1940

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【簡單介紹】

品牌 ElektroPhysik/德國EPK 價格區(qū)間 1萬-2萬
產(chǎn)地類別 進口 應(yīng)用領(lǐng)域 化工,石油,航天,汽車,綜合
德國EPK(Elektrophysik)公司
德國EPK MiniTest1100涂鍍層測厚儀
德國EPK涂鍍層測厚儀特點:
  MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機,各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能;
  所有型號均可配所有探頭;
  可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機;
  可使用一片或二片標準箔校準。

【詳細說明】

德國EPK

德國ElektroPhysik(簡稱EPK)公司是一家專門生產(chǎn)測厚儀的專業(yè)公司,自1954年以來一直致力于測厚類產(chǎn)品的開發(fā)和研究工作,是世界上生產(chǎn)測厚類產(chǎn)品的公司之一。

半個多世紀以來,EPK公司作為測厚領(lǐng)域的公司,在這個領(lǐng)域取得很高的聲譽,有著不可替代的地位。EPK產(chǎn)品包括:MikroTest麥考特系列機械型涂鍍層測厚儀,MiniTest 70系列口袋式便攜式涂鍍層測厚儀,MiniTest 700系列創(chuàng)新型SIDSP涂鍍層測厚儀,MiniTest 1100-2100-3100-4100系列/MiniTest 7400高精度涂鍍層測厚儀,MiniTest 600系列電子型涂鍍層測厚儀,QUINTSONIC超聲波涂層測厚儀,GALVANOTEST庫侖鍍層測厚儀,MiniTest 7200/7400 FH壁厚測厚儀,MiniTest 400系列超聲波測厚儀,CTM-S連續(xù)厚度測量系統(tǒng),StratoTest 4100路面測厚儀,StratoTest 4100 C爐壁測厚儀,PoroTest 7涂層針孔檢測儀等。

德國EPK涂鍍層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100技術(shù)特征:

型號1100210031004100
MINITEST 存儲的數(shù)據(jù)量
應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù))111099
每個應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對組內(nèi)數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計計算,并可設(shè)寬容度極限值) 1 500
可用各自的日期和時間標識特性的組數(shù) 1  
數(shù)據(jù)總量 100001000010000
MINITEST統(tǒng)計計算功能
讀數(shù)的六種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar 
讀數(shù)的八種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk  
組統(tǒng)計值六種x,s,n,max,min,kvar  
組統(tǒng)計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk  
存儲顯示每一個應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù)   
分組打印以上顯示和存儲的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計值  
顯示并打印測量值、打印的日期和時間 
其他功能
設(shè)置極限值  
連續(xù)測量模式快速測量,通過模擬柱識別Z大Z小值  
連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀數(shù)  
連續(xù)測量模式中顯示Z小值  

 德國EPK涂鍍層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100可選探頭參數(shù):

  所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇Z適用的探頭時需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的
形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
  F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層 
  N型探頭:測量有色金屬基體上的絕緣覆層 
  FN兩用探頭:同時具備F型和N性探頭的功能

 

探頭

量程

低端
分辨率

誤差

Z小曲率半徑
(凸/凹)

Z小測量
區(qū)域直徑

Z小基
體厚度

探頭尺寸



應(yīng)

F05

0-500μm

0.1μm

±(1%±0.7μm)

1/5mm

3mm

0.2mm

φ15x62mm

F1.6

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

0.5mm

φ15x62mm

F1.6/90

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

平面/6mm

5mm

0.5mm

φ8x8x170mm

F2/90

0-2000μm

0.2μm

±(1%±1μm)

平面/6mm

5mm

0.5mm

φ8x8x170mm

F3

0-3000μm

0.2μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

0.5mm

φ15x62mm

F10

0-10mm

5μm

±(1%±10μm)

5/16mm

20mm

1mm

φ25x46mm

F20

0-20mm

10μm

±(1%±10μm)

10/30mm

40mm

2mm

φ40x66mm

F50

0-50mm

10μm

±(3%±50μm)

50/200mm

300mm

2mm

φ45x70mm


FN1.6

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

F0.5mm/N50μm

φ15x62mm

FN1.6P

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

平面

30mm

F0.5mm/N50μm

φ21x89mm

FN2

0-2000μm

0.2μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

F0.5mm/N50μm

φ15x62mm




N02

0-200μm

0.1μm

±(1%±0.5μm)

1/10mm

2mm

50μm

φ16x70mm

N.08Cr

0-80μm

0.1μm

±(1%±1μm)

2.5mm

2mm

100μm

φ15x62mm

N1.6

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

2mm

50μm

φ15x62mm

N1.6/90

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

平面/10mm

5mm

50μm

φ13x13x170mm

N2

0-2000μm

0.2μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

50μm

φ15x62mm

N2/90

0-2000μm

0.2μm

±(1%±1μm)

平面/10mm

5mm

50μm

φ13x13x170mm

N10

0-10mm

10μm

±(1%±25μm)

25/100mm

50mm

50μm

φ60x50mm

N20

0-20mm

10μm

±(1%±50μm)

25/100mm

70mm

50μm

φ65x75mm

N100

0-100mm

100μm

±(1%±0.3mm)

100mm/平面

200mm

50μm

φ126x155mm

CN02

10-200μm

0.2μm

±(1%±1μm)

平面

7mm

無限制

φ17x80mm

     F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內(nèi)測量。

  N.08Cr適合銅上鉻,F(xiàn)N2也適合銅上鉻。
  CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。

德國EPK涂鍍層測厚儀MiniTest 1100/2100/3100/4100探頭

FN1.6
0~1600μm,φ5mm
兩用測頭,可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(O.1μm)
FN1.6P
0~1600μm,φ30mm
兩用測頭, 特別適合測粉末狀的覆層厚度
FN2
0~2000μm,φ5mm
兩用測頭,可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層
F05
0~500μm,φ3mm
磁性測頭,適于測量細小鋼鐵物體的薄覆層,如金屬鍍層,氧化層等
量程低端分辨宰很高(O.1μm)
F1.6
0~1600μm,φ5mm
磁性測頭
量程低端分辨率很高(O.1μm)
F3
0~3000μm,φ5mm
磁性測頭
可用于較厚的覆層
 F1.6/90
0~1600μm,φ5mm
90度磁性測頭
尤其適合于在管內(nèi)壁測量
量程低端分辨率很高(O.1μm)
 F2/90
0~2000μm,φ5mm
90度磁性測頭
尤其適合于在管內(nèi)壁測量
 F10
0~10mm,φ20mm
適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層,
如玻璃、塑膠、混凝土等
 F20
0~20mm,φ40mm
適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層,
如玻璃、塑膠、混凝土等
 F50
0~50mm,φ300mm
適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層
 N02
0~200μm,φ2mm
非磁性測頭,尤其適合測量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(O.1μm)
 N0.8Cr
0~80μm,φ2mm
適用于測量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層
 N1.6
0~1600μm,φ2mm
非磁性測頭,適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(O.1μm)
 N2
0~2000μm,φ5mm
非磁性測頭,適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層
 N1.6/90
0~1600μm,φ5mm
磁性測頭,適于測量較薄的絕緣覆層
尤其適合在管內(nèi)壁測量
量程低端分辨率很高(O.1μm)
 N2/90
0~2000μm,φ5mm
磁性測頭, 尤其適合在管內(nèi)壁測量
 N10
0~10mm,φ50mm
非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等
 N20
0~20mm,φ70mm
非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等
 N100
0~100mm,200mm
非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等
 CN02
10~200μm,φ7mm
用于測量絕緣材料上的有色金屬覆層,如覆銅板
    
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