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是一款*的高靈敏度分光光度計(jì)，可進(jìn)行深紫外區(qū)檢測(cè)，具備大樣品室，可滿(mǎn)足光學(xué)、半導(dǎo)體及FPD在以下方面的檢測(cè)需求。
FPD：
材料評(píng)估中NIR和大樣品的高靈敏度測(cè)定。
半導(dǎo)體：
短波長(zhǎng)激光和12英寸晶片整體表面的深紫外區(qū)測(cè)定。
光通信：
減反射膜NIR高靈敏度測(cè)定。
光學(xué)：
從DUV到NIR再到大樣品的高靈敏度分析。
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
光學(xué)組件需要對(duì)透光率及反射率進(jìn)行高精度測(cè)定。SolidSpec-3700/37000DUV擁有三個(gè)檢測(cè)器，覆蓋的范圍從紫外區(qū)到近紅外區(qū)。通過(guò)使用InGaAs和冷卻型PbS檢測(cè)器提高近紅外區(qū)的靈敏度。從而得到從紫外區(qū)到近紅外區(qū)高精度和高靈敏度光譜。 傳統(tǒng)的分光光度計(jì)使用一個(gè)光電倍增管對(duì)紫外和可見(jiàn)區(qū)域進(jìn)行檢測(cè)。但所有檢測(cè)器在檢測(cè)器轉(zhuǎn)換范圍內(nèi)靈敏度較低，因此在此范圍檢測(cè)時(shí)無(wú)法實(shí)現(xiàn)高靈敏度測(cè)定。 SolidSpec-3700/3700DUV通過(guò)使用InGaAs檢測(cè)器可在轉(zhuǎn)換領(lǐng)域內(nèi)進(jìn)行高靈敏度檢測(cè)。 高靈敏度檢測(cè)
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