CLARA新一代超高分辨場發(fā)射掃描電鏡

產(chǎn)品簡介

   全新設計的CLARA超高分辨場發(fā)射掃描電鏡可以提供的圖像質(zhì)量，具有強大的擴展分析能力，能夠滿足現(xiàn)今工業(yè)研發(fā)和科研的所有需求，不僅適用于的納米分析應用，也給操作者帶來舒適、高效的使用體驗。

產(chǎn)品特點

• 新一代鏡筒內(nèi)電子加速、減速技術，保證了復雜樣品的低電壓高分辨觀測能力。
• *配置的靜電-電磁復合物鏡，物鏡無磁場外泄，實現(xiàn)磁性樣品高分辨成像及分析。
• 配置4個新一代探測器，可實現(xiàn)9種圖像觀測，對樣品信息的采集更加全面。
• 配置大型樣品室，有超過20個擴展接口，為原位觀測、分析創(chuàng)造了良好的工作環(huán)境。
• 可以配置TESCAN自有或第三方的多種擴展分析附件，如EDS、EBSD、CL、Raman聯(lián)用。