Phasics公司基于其創(chuàng)新的高分辨率波前傳感技為客戶提供全方的測量和成像解決方案，以滿足激光工程師，鏡片生產(chǎn)商和細(xì)胞生物學(xué)家的需求。

基于四波橫向剪切的波前傳感器的工作波長范圍從紫外到遠(yuǎn)紅外，典型的應(yīng)用包括激光束測量和校正以及透鏡測試?；谒牟M向剪切的波前傳感器具有高的分辨率，也為波前分析的創(chuàng)新應(yīng)用開辟了新的道路，如等離子體密度測量或定量相位成像顯微鏡，如生命科學(xué)、材料檢驗(yàn)和熱成像。

法國Phasics公司擁有自主研發(fā)的波前傳感器，這種儀器是基于四波橫向剪切干涉技術(shù)而設(shè)計(jì)的。SID4系列波前探測器與傳統(tǒng)的夏克-哈特曼波前探測器比較，法國Phasics波前分析儀具有高動(dòng)態(tài)檢測范圍、消色差、高分辨率、消色差、操作簡便，高靈敏度等優(yōu)勢?？梢韵虿ㄇ盎儭⒉ㄇ跋嗖钐綔y以及光束質(zhì)量及波前參數(shù)的測量、分析；眼科的虹膜定位以及波前像差引導(dǎo)等提供了完整的優(yōu)秀的解決方案！PHASICS波前探測器軟件界面具有易用性，能夠明了的輸出高分辨率的相位圖和光束強(qiáng)度的分布圖。

本文的產(chǎn)品主要有：適用于常用波段的SID4波前傳感器;  用于紅外波段的型號(hào)：SID4 DWIR, SID4 LWIR, SID4-SWIR, SID4-NIR; 高分辨率的SID4 UV-HR,  SID4-HR； 最后是深紫外波段的SID4-UV和SID4 UV-HR。所有的波段都能夠有適合的產(chǎn)品為您提供，并且有高采樣點(diǎn)的型號(hào)和普通標(biāo)準(zhǔn)的型號(hào)等等。Phasics波前探測器，高分辨，紫外波段

法國Phasics SID4 波前傳感器的特點(diǎn)：

SID4可用于400nm-1000nm 的激光的波前像差，強(qiáng)度分布，波前位相、澤尼克參數(shù), 激光的M2等進(jìn)行實(shí)時(shí)的測量及參數(shù)輸出。

-可直接測量：消色差設(shè)計(jì)，測量前無需再次對波長校準(zhǔn)，消色差：干涉和衍射對波長相消

-高分辨率：最多采樣點(diǎn)可達(dá)120000個(gè)（160x120），測量穩(wěn)定性高

-內(nèi)部光柵橫向剪切干涉，防震設(shè)計(jì)，無需隔震平臺(tái)也可測試，對實(shí)驗(yàn)條件要求簡單

-高動(dòng)態(tài)范圍：高達(dá)500μm

-波長范圍：400-1100nm

SID4 UV-HR高分辨紫外波前傳感器的特點(diǎn)：

Phasics公司將 SID4的測量波長范圍:190nm-400nm。SID4 UV-HR是一款適用于紫外波段的高分辨率波前探測器,非常適用于光學(xué)元件測量（例如印刷、半導(dǎo)體等等）和表面檢測（半導(dǎo)體晶片檢測等）。

-高分辨率（250x250）

-通光孔徑大（8.0mmx8.0mm）

-覆蓋紫外光譜

-靈敏度高（0.5um）

-優(yōu)化信噪比

SID4-HR 波前相差儀特點(diǎn)：

能夠進(jìn)行對透鏡、光學(xué)系統(tǒng)實(shí)時(shí)的PSF（點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)）、OTF（光學(xué)傳遞函數(shù)）、MTF（調(diào)制傳遞函數(shù)）以及波前像差測量和參數(shù)輸出。與傳統(tǒng)的透鏡檢測設(shè)備比較：干涉儀，傳函儀、具有測量精度高，操作簡便，參數(shù)輸出方便等優(yōu)勢。

-曝光時(shí)間極短,保證動(dòng)態(tài)物體測量

-波長范圍：400-1100nm

-實(shí)時(shí)測量，立即給出整個(gè)物體表面的信息（120000個(gè)測量點(diǎn)）

-高性能的相機(jī)，信噪比高，操作簡單

SID4 NIR 波前分析儀

其主要針對1550 nm（1.5um-1.6um）激光進(jìn)行檢測的儀器，具有分辨率高，高動(dòng)態(tài)范圍、高靈敏度、操作簡便等優(yōu)勢。是紅外透鏡像差，光學(xué)測量和紅外物體、MTF，PSF以及焦距和表面質(zhì)量測量的理想工具。

-高分辨率（160x120）

-快速測量

-絕對測量

-對振動(dòng)不敏感

-性價(jià)比高

SID4 UV 波前分析儀

其主要針對250-450nm激光進(jìn)行檢測的儀器，具有分辨率高，高動(dòng)態(tài)范圍、高靈敏度、操作簡便等優(yōu)勢。適用于UV光學(xué)測試，UV激光表征（用于光刻，半導(dǎo)體......）和表面檢測（透鏡和晶圓......）光學(xué)測量和MTF，PSF以及焦距測量。

-非常高的分辨率-250×250相位圖

-高靈敏度 - 2 nm RMS

-經(jīng)濟(jì)實(shí)惠的紫外波前測量解決方案

SID4 DWIR/ SID4 LWIR/ SID4-SWIR波前儀

擁有寬波段波前探測的特點(diǎn)。實(shí)時(shí)的檢測3-5um以及8-14um的強(qiáng)度分布和波前位相等的波前信息?？梢院芎玫膽?yīng)用于紅外波段應(yīng)用的波前檢測需求。

-光學(xué)測量：SID4 DWIR是測量紅外物體特性（熱成像和安全視覺）或紅外透鏡（CO2激光器）的理想工具，輸出結(jié)果包括MTF，PSF，像差，表面質(zhì)量和透鏡焦距。

-光束測量：（CO2激光器，紅外OPO激光光源等等）此型號(hào)可以提供詳盡的光束特性參數(shù)：M2，像差，光束特性，光強(qiáng)分布等

-可實(shí)現(xiàn)離軸測量，可實(shí)現(xiàn)絕對測量，性價(jià)比高

-高分辨率（96x72，快速測量 對振動(dòng)不敏感

-可覆蓋中紅外和遠(yuǎn)紅外波段 大數(shù)值孔徑測量，無需額外中轉(zhuǎn)透鏡

法國Phasics波前相差儀主要應(yīng)用：

-光學(xué)系統(tǒng)質(zhì)量分析：MTF, PSF, EFL, 澤尼克系數(shù), 光學(xué)鏡頭/系統(tǒng)質(zhì)量控制

-激光光束參數(shù)測量：相位（2D/3D），M2，束腰位置，直徑，澤尼克/勒讓德系數(shù)

-生物應(yīng)用：蛋白質(zhì)等組織定量相位成像

-自適應(yīng)光學(xué)：焦斑優(yōu)化，光束整形

-熱成像分析，等離子體特征分析

-元器件表面質(zhì)量分析：表面質(zhì)量（RMS，PtV，WFE），曲率半徑

法國Phasics波前探測器參數(shù)規(guī)格對比

夏克哈特曼和四波橫向剪切干涉波前分析儀對比表

總體而言，在空間分辨率和靈敏度而言基于剪切干涉技術(shù)的波前分析儀都比夏克哈特曼為基礎(chǔ)的波前分析儀要更為優(yōu)秀。采樣點(diǎn)更多，準(zhǔn)確度更高分辨率也更高。安裝便捷，配套的軟件功能豐富?；诟道锶~變換，將時(shí)域轉(zhuǎn)換為頻域分析使得其不依賴光強(qiáng)變化，更加的敏感，但可能不能估計(jì)光強(qiáng)的變化。一定條件下，它是選擇作為激光質(zhì)量分析，透鏡質(zhì)量監(jiān)控，光學(xué)表面測量，以及成像的更優(yōu)選擇。Phasics波前探測器，高分辨，紫外波段