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噴霧顆粒分析監(jiān)測(cè)儀參考價(jià)：面議

參考價(jià)：面議型號(hào)：SpraySpy德國(guó)AOM
噴霧顆粒分析監(jiān)測(cè)儀德國(guó)AOM系統(tǒng)公司名稱來(lái)源于“Advance Optical Measurement Systems“，即先進(jìn)的光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)，AOM公司作為...
型號(hào)： SpraySpy德... 品牌：所在地：上海市 對(duì)比

SpraySpy德國(guó)AOM噴霧顆粒分析監(jiān)測(cè)儀

2024/8/19 19:56:592116
納米顆粒跟蹤分析儀參考價(jià)：面議

參考價(jià)：面議型號(hào)：Zetaview _Particle M
納米顆粒跟蹤分析儀 Zetaview所具備的單一顆粒跟蹤技術(shù)，結(jié)合經(jīng)典微電泳技術(shù)和布朗運(yùn)動(dòng)成為現(xiàn)代的分析手段。自動(dòng)校準(zhǔn)和自動(dòng)聚焦功能，讓用戶眼見為實(shí)，更加直觀人...
型號(hào)： Zetaview ... 品牌：所在地：上海市 對(duì)比

納米顆粒跟蹤分析儀Zetaview _Particle M德國(guó)Particle Metrix

2024/8/19 19:55:174264
顆粒電位滴定及粒度分析儀參考價(jià)：面議

參考價(jià)：面議型號(hào)：Stabino_Particle Met
顆粒電位滴定及粒度分析儀分散體中，同性帶電離子的靜電排斥作用是分散體避免凝聚保持穩(wěn)定的主要原因，故帶電粒子界面的表征是*的。當(dāng)顆粒離子化后，總電荷和電荷密度是...
型號(hào)： Stabino_P... 品牌：所在地：上海市 對(duì)比

Stabino_Particle Metrix顆粒電位滴定及粒度分析儀粒度分析儀

2024/8/19 19:53:281987
Zeta電位及納米粒度分析儀參考價(jià)：面議

參考價(jià)：面議型號(hào)：Nanotrac wave
Zeta電位及納米粒度分析儀麥奇克（Microtrac Inc.）是世界上Z著名的激光應(yīng)用技術(shù)研究和制造廠商，其先進(jìn)的激光粒度分析儀已廣泛應(yīng)用于水泥，磨料，冶...
型號(hào)： Nanotrac ... 品牌：所在地：上海市 對(duì)比

Nanotrac waveMicrotrac/麥奇克Microtrac/麥奇克Zeta電位及納米粒度分析儀

2024/8/19 19:40:592752