顆粒3D動(dòng)態(tài)圖像分析儀

原理：

從頻閃光源發(fā)出的頻閃光，經(jīng)過(guò)光束擴(kuò)束器，得到平行的頻閃光，在測(cè)試區(qū)域頻閃光照射在分散好的單個(gè)顆粒上，經(jīng)過(guò)擁有專業(yè)的光學(xué)成像系統(tǒng)，得到每個(gè)顆粒清晰的圖像和全部樣品的粒度分布。

特點(diǎn)：
* *的光路設(shè)計(jì)，成像大小同物距無(wú)關(guān)
* *的頻閃光源和高速成像系統(tǒng)，*同高效的分散系統(tǒng)相結(jié)合，對(duì)每個(gè)顆粒均能得到清晰的圖像
* 頻閃時(shí)間間隔 t ≈1 ns（即頻閃率約為109次/秒），光源頻率可以根據(jù)快速CMOS相機(jī)的快門頻率進(jìn)行調(diào)節(jié)（1-500Hz)

顆粒3D動(dòng)態(tài)圖像分析儀

Microtrac在在線顆粒大小和形狀測(cè)量方面有超過(guò)25年經(jīng)驗(yàn)，了解過(guò)程加工環(huán)境的所有需求，在線測(cè)量的好處就是讓操作者能實(shí)時(shí)的看到過(guò)程的變化，使他們立即作出反應(yīng)，得到高質(zhì)量的產(chǎn)品。
 

技術(shù)參數(shù)：

多于30種的形態(tài)參數(shù)

干法的測(cè)量范圍：15μm --35,000μm

相機(jī)速度：至少100幅/秒，高分辨率相機(jī)

封閉式的光學(xué)系統(tǒng)，減少停機(jī)維護(hù)

堅(jiān)固耐用，適用于任何實(shí)驗(yàn)室設(shè)置

 測(cè)量方法：動(dòng)態(tài)顆粒圖像實(shí)時(shí)分析的3D分析技術(shù)

應(yīng)用范圍

QICPIC廣泛應(yīng)用于食品行業(yè)、石油工業(yè)、紡織行業(yè)、飲料行業(yè)、醫(yī)藥行業(yè)、煙草行業(yè)等領(lǐng)域，可用于測(cè)試如纖維、芝麻、鋼球、造粒小球、飲料中的果粒等物質(zhì)的粒度粒形檢測(cè)，并可應(yīng)用于顆粒的計(jì)數(shù)。

結(jié)果輸出：

根據(jù)物料不同的性質(zhì)，可選取適合的表征值，進(jìn)行結(jié)果的計(jì)算與顯示。也可在獲得樣品的測(cè)試信息后，更換表征值或自定義值進(jìn)行結(jié)果的重新計(jì)算。