目錄:青島森泉光電有限公司>>激光控制和光學(xué)測(cè)量相關(guān)>>偏振測(cè)量?jī)x>> SI035Thorlabs 剪切干涉儀 定性準(zhǔn)直測(cè)試儀
| 參考價(jià) | ￥ 4500 |
| 訂貨量 | ≥1件 |
| ￥4500 |
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更新時(shí)間：2024-11-15 10:53:21瀏覽次數(shù)：1251評(píng)價(jià)
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| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,生物產(chǎn)業(yè),電子/電池,綜合 |
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Thorlabs 剪切干涉儀 定性準(zhǔn)直測(cè)試儀
特性
用于相干光束的定性準(zhǔn)直測(cè)試儀
適合1 mm到50 mm光束直徑的各種選項(xiàng)
分出< 10%光束
磁性耦合可調(diào)設(shè)計(jì)，可快速更換剪切板
英制和公制螺紋安裝孔
輸出端兼容30 mm籠式系統(tǒng)(除了SI500)
下面提供更換的剪切板
下面單獨(dú)提供配件(不兼容SI500)
SIVS放大觀察屏，用于?1 mm - ?10 mm光束
SITST安裝板，帶SM1 (1.035"-40)內(nèi)螺紋
SICP和SICPSM1轉(zhuǎn)接件，用于兼容30 mm籠式系統(tǒng)
Thorlabs剪切干涉儀設(shè)計(jì)用于定性檢測(cè)相干光束的準(zhǔn)直。它們?yōu)檩o助準(zhǔn)直透鏡的對(duì)準(zhǔn)提供一種快速的方法。剪切干涉儀包含一塊楔形光學(xué)平板，相對(duì)入射光束以45°安裝。光學(xué)平板前后表面的反射重疊在設(shè)備頂部的散射板上。散射板上刻的參考線指示入射光束是否準(zhǔn)直。
楔形光學(xué)平板由未鍍膜的紫外熔融石英制成，透射范圍從185 nm到2.1 µm。如果用于紅外光，需要紅外觀察儀才能看到散射板上的條紋。每個(gè)平板的楔角針對(duì)可接受光束的直徑范圍(刻在剪切板上)經(jīng)過(guò)優(yōu)化；詳情請(qǐng)看規(guī)格標(biāo)簽。由于光45°角入射在平板上，條紋圖案的強(qiáng)度取決于光的偏振。偏振垂直于入射平面時(shí)產(chǎn)生最大強(qiáng)度。
構(gòu)造
每個(gè)剪切干涉儀包含三個(gè)部分：一個(gè)底座、一個(gè)帶楔形光學(xué)平板的剪切板和一個(gè)帶散射觀察屏的板。為了搭建干涉儀，可用包含的帶帽螺絲和六角扳手將觀察屏板安裝再底座上。剪切板通過(guò)磁力固定位置，方便更換帶有不同楔形光學(xué)平板的剪切板。
30 mm籠桿固定在SI254剪切干涉儀的輸出端上
Thorlabs 剪切干涉儀 定性準(zhǔn)直測(cè)試儀
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