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SEMICON CHINA 2019 圓滿成功
閱讀：1401 發(fā)布時間：2019-6-20SEMICON CHINA 2019半導(dǎo)體展已于2019年3月22日在上海博覽中心完滿落幕，展期共3天，優(yōu)尼康科技有限公司攜多臺設(shè)備閃耀亮相了本次展會，其中有多臺KLA旗下美國Filmterics 新型光學(xué)薄膜測量設(shè)備，包括3D掃描輪廓儀系統(tǒng)Profilm3D，測量超厚膜系列F1310，測量超薄膜F3-UV，半自動圓晶測量系統(tǒng)F50， F40等多款膜厚測試設(shè)備。另外展出還有FilmSense橢偏儀以及我司開發(fā)的MK II跟5050。
展會期間，優(yōu)尼康家人向廣大觀展商展示了薄膜厚度測量技術(shù)，現(xiàn)場操作演示及的講解，除了吸引了不少行業(yè)人士前來現(xiàn)場相互交流指導(dǎo)， 也吸引合作伙伴的目光和青睞，并獲得現(xiàn)場交流人士*，此次展會取得圓滿成功。
在未來的發(fā)展路上，我司會以赴，將我們經(jīng)營理念“真誠，專注，信賴”服務(wù)于大家。
期待2020年半導(dǎo)體展與各界人士再度相會！
火爆的展會現(xiàn)場
現(xiàn)場技術(shù)交流
優(yōu)尼康家人大合照
