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詳細摘要： 美國博曼K系列XRF高精度涂層測量系統(tǒng)，具備12英寸×12英寸的測量區(qū)域，適用于多種樣品檢測。

詳細摘要： B系列是博曼的基礎機型和常規(guī)機型。該型號采用自上而下的測量方式。配備固定樣品臺可實現(xiàn)手動操作。測量時將樣品放入樣品倉，通過觀察視頻圖像來對準屏幕上十字線內的位置...

詳細摘要： TABLE STABLE主動式隔震系統(tǒng) 防震臺 主動式減震方案，應用超乎你想象 更多TABLE STABLE 主動式隔震系統(tǒng)AVI-400可參照詳情

詳細摘要： Filmetrics F10-RT 薄膜測量儀同步測量薄膜的反射率/穿透率，F(xiàn)10-RT使Filmetrics的分析能力實現(xiàn)了同步測量反射率與穿透率。只要立即的...

詳細摘要： HERZ TS系列 主動式隔震系統(tǒng) 防振臺，主動式隔震系統(tǒng)創(chuàng)建一個穩(wěn)定的測量環(huán)境。如需了解更多，咨詢。。。

詳細摘要： Filmetrics 光學膜厚測量儀測厚儀嵌入式在線診斷免費離線分析軟件精細的歷史數(shù)據(jù)功能，幫助用戶有效的存儲，重現(xiàn)與繪制測量結果

詳細摘要： Filmetrics F10-RT 薄膜分析儀薄厚測量 同步測量薄膜的反射率/穿透率，如需了解更多，查詢。。。。

詳細摘要： 桌面式薄膜測厚儀美國Filmetrics F50 光學膜厚測量儀自動化薄膜厚度繪圖系統(tǒng) 依靠 F50的光譜測量系統(tǒng)，可以很簡單快速地獲得Z大直徑 450 毫米的...

詳細摘要： Surface Stylus Profilers 探針式表面輪廓儀 P-7KLA是半導體在線檢測設備市場的供應商，在半導體、數(shù)據(jù)存 儲、 MEMS 、太陽能、光...

詳細摘要： Zeta-20臺式光學輪廓儀是一款緊湊牢固的全集成光學輪廓顯微鏡，可以提供3D量測和成像功能。該系統(tǒng)采用ZDot技術，可同時采集高分辨率3D數(shù)據(jù)和True Co...

詳細摘要： Filmetrics 已經(jīng)讓光學輪廓測量變得容易承受。Filmetrics Profilm3D 光學輪廓儀使用垂直掃描干涉技術 （VSI ），結合可選的高精度相...

詳細摘要： Filmetrics 光學薄膜測厚儀 F40 結合顯微鏡的薄膜測量系統(tǒng) ，精密光譜測量系統(tǒng)讓用戶簡單快速地測量薄膜的厚度和光學常數(shù)，通過對待測膜層的上下界面間反...

詳細摘要： Filmetrics 光學膜厚測量儀依靠 F60 的光譜測量系統(tǒng)，可以很簡單快速地獲得薄膜的厚度分布圖。 采用 r-θ 極坐標移動平臺，可以非常快速的定位所需測...

詳細摘要： Film Sense FS-1多波長橢偏儀采用壽命長 LED 光源和非移動 式部件橢偏探測器，可在操作簡單的緊湊型橢偏儀中實現(xiàn)快速和可 靠地薄膜測量。大多數(shù)厚度...

詳細摘要： iNano 納米壓痕儀可輕松測量薄膜、涂層和少量材料。 該儀器準確、靈活，并且用戶友好，可以提供壓痕、硬度、劃痕和通用納米級測試等多種納米級機械測試。 該儀器的...

詳細摘要： iMicro為壓痕、硬度、劃痕測試和多元化納米級測試等納米級力學測試設計。iMicro具有多量程加載驅動器，實現(xiàn)在寬泛的荷載和位移的范圍內進行測量。iMicro...

詳細摘要： 光學表面輪廓儀讓3D光學輪廓測量的價格變得能夠接受。Profilm3D使用垂直干涉掃描（WLI）與高精度的相位干涉（PSI）技術。以低的價格實現(xiàn)次納米級的表面形...

詳細摘要： 光學3d表面輪廓儀讓3D光學輪廓測量的價格變得能夠接受。Profilm3D使用垂直干涉掃描（WLI）與高精度的相位干涉（PSI）技術。以很低的價格實現(xiàn)次納米級的...

詳細摘要： 光學輪廓儀廠家支持3D量測和成像功能，并提供整合隔離工作臺和晶圓盒到晶圓盒的晶圓傳送系統(tǒng)，可實現(xiàn)全自動測量。該系統(tǒng)采用ZDot技術，可同時采集高分辨率3D數(shù)據(jù)和...

詳細摘要： -Filmetrics光學膜厚測量儀：不論您是想要知道薄膜厚度、光學常熟，還是想要知道材料的反射率和透過率，F(xiàn)20都能滿足您的需要。僅需花費幾分鐘完成安裝，通過...