目錄:北京精科智創(chuàng)科技發(fā)展有限公司>>材料電學(xué)性能測試儀>>高低溫介電材料測試儀>> GDJD-600高低溫介電測量儀
產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電氣 |
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GDJD-600型高低溫介電性能測量系統(tǒng)(四通道測試,同時(shí)測試4個(gè)樣品)介紹:
關(guān)鍵詞:高低溫介電測量儀,高低溫介電測量系統(tǒng)。
GWJD-600型高溫介電性能測量系統(tǒng)主要應(yīng)用于高低溫下材料的介電性能測試與分析,包括介電常數(shù)、介電損耗、電容等參數(shù),同時(shí)測試出測試材料的其他阻抗參數(shù),廣泛應(yīng)用于陶瓷材料、半導(dǎo)體器件及功能薄膜材料等研究 。
產(chǎn)品優(yōu)勢:
1.實(shí)現(xiàn)室溫-140°C-800°C的低高溫介電轉(zhuǎn)換測量
2.四通道測試,可以同時(shí)測試1-4個(gè)樣品,方便快捷
3.數(shù)據(jù)分析軟件:提供多種掃描曲線,可以在多窗口之間切換數(shù)據(jù)
產(chǎn)品特點(diǎn):
1.可以在低高溫、寬頻、真空條件下測量固體、薄膜樣品的介電性能。
2.可以分樣品的頻率譜、溫度譜、偏壓譜、阻抗譜、介電譜、時(shí)間譜等測量功能。
3.可以測量樣品的介電常數(shù)、介電損耗,電容C,損耗D,電感L,品質(zhì)因數(shù)Q,阻抗Z等物理量;以實(shí)現(xiàn)介電常數(shù)和介電損耗隨多個(gè)溫度、多個(gè)頻率變化的曲線,時(shí)間和電壓變化的曲線。
4.可提供塊體,薄膜,單樣品,四樣品夾具,滿足不同測試要求。
高低溫介電測量儀主要技術(shù)指標(biāo):
測量溫度:-160°C-800°C | 升溫斜率:2°C/min |
頻率范圍:20-30MHZ | 精度:0.05% |
測量精度:±0.1°C | 控溫精度:±1°C(PID精準(zhǔn)控溫) |
高溫樣品桿:耐高溫、1000°C不氧化,電極阻抗低、絕緣好 | 測試方法:兩線法或四線法 |
測試通道數(shù):1-4通道 | 一次可測樣品數(shù):1-4個(gè)樣品 |
樣品尺寸:直徑小于2-10mm,厚度小于1-10mm,樣品放置位置靈活,可快捷安裝和拆卸 | 測量精度:0.05% |
AC電平:0V到1Vrms | 直流偏壓:0到±40V/100mA |
數(shù)據(jù)存儲(chǔ):EXCEL表格等多種格式 | 加熱方式:電阻絲加熱 |
真空度范圍:100Pa-1大氣壓 | 電極材料:鉑金 |
數(shù)據(jù)傳輸:4個(gè)USB接口 | 儀器通訊:USB或GPIB |
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)