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ZJ-4 型壓電測(cè)試儀（靜壓電系數(shù)d33測(cè)量?jī)x）,薄膜PVDF壓電系數(shù)測(cè)試儀
關(guān)鍵詞:壓電,陶瓷材料,高分子,d33/d15,D15圓管夾具,

一、產(chǎn)品介紹：

ZJ-4型壓電測(cè)試儀（靜壓電系數(shù)d33測(cè)量?jī)x）是為測(cè)量壓電材料的d33常數(shù)而設(shè)計(jì)的專用儀器，它可用來(lái)測(cè)量具有大壓電常數(shù)的壓電陶瓷，小壓電常數(shù)的壓電單晶及壓電高分子材料,PVDF薄膜壓樣品。ZJ-4擴(kuò)展了D31塊體，D31薄膜拉伸夾具，D15條狀?yuàn)A具，D15圓管夾具,本儀器是從事壓電材料及壓電元件生產(chǎn)、應(yīng)用與研究部門(mén)的儀器。

二、參考標(biāo)準(zhǔn):
GB3389.4-82《壓電陶瓷材料性能測(cè)試方法 縱向壓電應(yīng)變常數(shù)d33的靜態(tài)測(cè)試》

GB/T3389.5-1995《壓電陶瓷材料性能測(cè)試方法 圓片厚度伸縮振動(dòng)模式》

GB000?Tj1.1/T3389.4-1982《壓電陶瓷材料性能測(cè)試方法 柱體縱向長(zhǎng)度伸縮振動(dòng)模式》

GB/T 3389.7-1986《壓電陶瓷材料性能測(cè)試方法 強(qiáng)場(chǎng)介電性能的測(cè)試》

GB/T3389.8-1986《壓電陶瓷材料性能測(cè)試方法 熱釋電系數(shù)的測(cè)試

三、產(chǎn)品主要功能：

測(cè)量壓電材料的d33常數(shù)

測(cè)量具有大壓電常數(shù)的壓電陶瓷

測(cè)量小壓電常數(shù)的壓電單晶及壓電高分子材料 

測(cè)量任意取向壓電單晶以及某些壓電器件的等效壓電d’33常數(shù)

薄膜PVDF壓電系數(shù)D33測(cè)試

D31塊體，D31薄膜拉伸夾具，D15條狀?yuàn)A具，D15圓管夾具等八套夾具

四、主要技術(shù)指標(biāo)

d33測(cè)量范圍：

 ×1擋：  20 至6000pC/N 擴(kuò)展10000PC/N

×0.1擋： 2 至400pC/N。

可以配套PZT-JH10/4/8/12型壓電極化裝置使用

可以配套ZJ-D33-YP15壓電壓片機(jī)使用
誤差：×1擋：±2%±1個(gè)數(shù)字，當(dāng)d33在100到4000pC/N；

計(jì)量標(biāo)定標(biāo)準(zhǔn)樣尺寸：18mm*0.8mm，老化時(shí)間：2-3年（評(píng)判壓電測(cè)試儀準(zhǔn)確性能的重要依據(jù)之一）

提供壓電薄膜標(biāo)準(zhǔn)片：20*20MM

電壓保護(hù)：放電保護(hù)功能  

D31塊體，D31薄膜拉伸夾具，D15條狀?yuàn)A具，D15圓管夾具D31塊體夾具，薄膜拉伸夾具（新增功能）,共面電極功能（新增）
±5%±1個(gè)數(shù)字，當(dāng)d33在10到200pC/N；
×0.1擋：±2%±1個(gè)數(shù)字，(當(dāng)d33在10到200pC/N)
±5%±1個(gè)數(shù)字，當(dāng)d33在10到20pC/N。
分辨率： ×1擋：1 pC/N；    ×0.1擋：0.1 pC/N。
尺寸：施力裝置：Φ110×140mm；儀器本體：240×200×80mm。
重量：施力裝置：約4公斤；   
儀器本體：2公斤。
電源：220伏，50赫，20瓦。

 經(jīng)典案列：

1、環(huán)形壓電陶瓷片/疊堆測(cè)試 D33測(cè)試儀  實(shí)際應(yīng)用一：

2、環(huán)形壓電陶瓷彎曲片D33測(cè)試  實(shí)際應(yīng)用二：