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當(dāng)前位置：冠乾科技（上海）有限公司>>產(chǎn)品展示>>表面分析測(cè)量>>平面平晶檢測(cè)干涉儀
平面平晶檢測(cè)干涉儀 突破了一等平面平晶限制，且其采樣點(diǎn)可達(dá)上百萬(wàn)像素，能客觀反映被測(cè)平面全貌。 不僅測(cè)量精度高，而且具有*的測(cè)量效率。此款干涉儀可廣泛應(yīng)用高精度...
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