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產(chǎn)品分類品牌分類

雙折射測量儀: 應(yīng)力雙折射測量儀PA系列應(yīng)力雙折射測量儀WPA系列顯微型雙折射測量儀晶圓應(yīng)力雙折射測量儀在線型應(yīng)力雙折射測量儀偏振相機(jī) 膜厚測量儀

無掩膜光刻系統(tǒng): 無掩膜光刻機(jī)

微區(qū)取樣系統(tǒng): 微區(qū)取樣儀

顯微鏡系列設(shè)備: 共聚焦顯微鏡

薄膜應(yīng)力儀/球坑儀/桌面級鍍膜系統(tǒng): 測量

半導(dǎo)體設(shè)備: 劃片機(jī) 研磨機(jī) 清洗機(jī) 解膠機(jī) 貼膜機(jī) 刀具與耗材

微光學(xué)元件: 微光透鏡與耦合系統(tǒng)

激光器: 激光加工設(shè)備激光測距儀半導(dǎo)體激光器

物理特性測量設(shè)備: 納米壓痕儀

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Sympatec/新帕泰克
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岡本減薄機(jī) 高剛性，不會因老化造成精度變化，部件由岡本自產(chǎn)鑄金一體化生產(chǎn)。
型號：所在地：北京市參考價：面議更新時間：2025/1/24 10:32:36 對比

岡本減薄機(jī)研磨機(jī)SIC研磨機(jī)
自動劃片機(jī)
自動劃片機(jī)劃片機(jī)的PCB產(chǎn)業(yè)-HDI板,IC封裝基板,被動組件產(chǎn)業(yè)-熱敏電阻,過電流保護(hù)組件,MLCC,光電子元器件產(chǎn)業(yè)-LED陶瓷基板,銅基板,砷化鎵晶圓,I...
型號：所在地：北京市參考價：面議更新時間：2025/1/24 10:17:03 對比

全自動劃片機(jī)晶圓切割機(jī)SIC切割機(jī)SIC晶圓劃片機(jī)
白光共聚焦顯微鏡
Lasertec激光+白光共聚焦顯微鏡以雙共聚焦光學(xué)系為基礎(chǔ)，搭載微分干涉觀察，垂直白光干涉測定，相差干涉測定，反射分光膜厚測定等功能，通常多臺設(shè)備才能完成的測...
型號： HYBRID 所在地：北京市參考價：面議更新時間：2025/1/24 11:43:09 對比

激光共聚焦顯微鏡亞微米級膜厚檢測激光共聚焦顯微鏡 lasertec共聚焦顯微鏡白光共聚焦顯微鏡
微區(qū)取樣儀
微型取樣機(jī)械手是微小物體分析強(qiáng)有力的輔助手段，在顯微紅外、顯微拉曼、XRD、SEM和TEM檢測中，經(jīng)常會遇到微小待測物被覆蓋、包埋、粘連等問題，有時候待測位置難...
型號： Micro Sup... 所在地：北京市參考價：面議更新時間：2025/1/24 11:41:07 對比

微區(qū)取樣儀 Micro Support Axis pro
無掩膜光刻機(jī)
無掩膜光刻機(jī)UTA系列是將DLP投影儀盒金相顯微鏡相結(jié)合的縮小投影型無掩模曝光系統(tǒng)，其傳統(tǒng)系統(tǒng)（用于掩膜光刻的圖案投影曝光系統(tǒng)）可以使用專門為此目的開發(fā)的軟件來...
型號： UTA-IA 所在地：北京市參考價：面議更新時間：2025/1/24 13:25:31 對比

顯微鏡LED曝光機(jī)LED光刻機(jī)無掩膜光刻機(jī)無掩模led曝光機(jī)科研型光刻機(jī)
APCO精密劃片機(jī)
日本APCO公司APCO精密劃片機(jī)系列，型號包括AMC－7600，7800，8000。適用于TEM（透射電鏡）和SEM（掃描電鏡）等的樣品制備工作，廣泛應(yīng)用于硅...
型號：所在地：北京市參考價：面議更新時間：2025/1/24 13:04:21 對比

精密劃片機(jī)切割機(jī)劃片機(jī)日本劃片機(jī)
偏振相機(jī)
PI/WPI偏振相機(jī)能夠獲得實(shí)時的偏振信息，作為一個正常的圖像，并在高分辨率。它們被應(yīng)用在許多領(lǐng)域，包括利用偏振特征識別暗物體，激光光束的實(shí)時偏振監(jiān)測等。除了P...
型號： PI-300/WP... 所在地：北京市參考價：面議更新時間：2025/1/24 13:21:30 對比

偏振成像偏振相機(jī)
玻璃應(yīng)力雙折檢測系統(tǒng)
玻璃應(yīng)力雙折檢測系統(tǒng)PA300和PA300-L是Photonic lattic公司以其L先世界的光子晶體制造技術(shù)開發(fā)的產(chǎn)品，*的測量技術(shù)，高速而又的測量3D玻璃...
型號： PA300 所在地：北京市參考價：面議更新時間：2025/1/24 10:53:05 對比

應(yīng)力儀偏光測量儀內(nèi)應(yīng)力測量儀偏光應(yīng)力儀雙折射測量
玻璃應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)
玻璃應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)PA系列分布測量儀:理想的光學(xué)玻璃是各向同性的，但在退火過程中由于玻璃內(nèi)外溫度不同，或者退火爐內(nèi)各處溫度不等都會產(chǎn)生內(nèi)應(yīng)力。光學(xué)玻璃內(nèi)應(yīng)力...
型號： PA系列所在地：北京市參考價：面議更新時間：2025/1/24 10:45:27 對比

玻璃應(yīng)力分布手機(jī)面板雙折射測量儀玻璃相位差測量偏光應(yīng)力儀內(nèi)應(yīng)力測量儀
球坑測厚儀
球坑測厚儀的特點(diǎn)是采用優(yōu)質(zhì)機(jī)械加工部件和傻瓜化的操作，使得設(shè)備特別適合于要求快速測量硬質(zhì)層的厚度。球坑法是一種簡易實(shí)用的鍍層厚度測試方法，主要用于硬質(zhì)膜、固體潤...
型號： BCT 1000 所在地：北京市參考價：面議更新時間：2025/1/24 10:09:05 對比

球坑測厚儀薄膜測厚儀球坑儀硬質(zhì)涂層測量儀
應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)
應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)WPA系列可測量相位差高達(dá)3500nm，適合PC高分子材料，是Photonic lattic公司以其光子晶體制造技術(shù)開發(fā)的產(chǎn)品，*的測量技術(shù)使...
型號： WPA-200 所在地：北京市參考價：面議更新時間：2025/1/24 13:17:23 對比

雙折射測量儀應(yīng)力雙折射儀應(yīng)力雙折射測量儀應(yīng)力分布測量儀偏光應(yīng)力儀