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塑料薄膜和薄片測(cè)厚儀--應(yīng)用

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  • 塑料薄膜和薄片測(cè)厚儀--應(yīng)用

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參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 型號(hào) LBTY-35
  • 品牌 LBT/萊博特
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 所在地 天津市

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更新時(shí)間:2025-04-28 14:43:11瀏覽次數(shù):1362

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

產(chǎn)地類別 國(guó)產(chǎn) 價(jià)格區(qū)間 面議
應(yīng)用領(lǐng)域 綜合    
LBTY-35型塑料薄膜和薄片測(cè)厚儀--應(yīng)用薄膜測(cè)厚儀適用于塑料薄膜、薄片的厚度測(cè)試,還可適用于紙張、紙板的厚度測(cè)試、箔片、硅片、金屬片的厚度測(cè)、試紡織材料的厚度測(cè)試、固體電絕緣體的厚度測(cè)試。

詳細(xì)介紹

LBTY-35塑料薄膜和薄片測(cè)厚儀--應(yīng)用

LBTY-35塑料薄膜和薄片測(cè)厚儀--應(yīng)用薄膜測(cè)厚儀適用于塑料薄膜、薄片的厚度測(cè)試,還可適用于紙張、紙板的厚度測(cè)試、箔片、硅片、金屬片的厚度測(cè)、試紡織材料的厚度測(cè)試、固體電絕緣體的厚度測(cè)試。

產(chǎn)品參數(shù)
1、分度值0.001mm 量程0-1mm
2
、上下測(cè)量面為平面時(shí),測(cè)量面對(duì)試樣施加的負(fù)荷為0.5N1.0N之間。
3、上下測(cè)量面為凸/平面時(shí),上測(cè)量面的曲率半徑在15-50mm)時(shí),其測(cè)量面對(duì)試樣施加的負(fù)荷為0.1N0.5N之間。
4、測(cè)量精度
100um以內(nèi) 精度1um
100um
250um 精度2um
250um
以上 精度3um

薄膜測(cè)厚儀適用于塑料薄膜、薄片的厚度測(cè)試,還可適用于紙張、紙板的厚度測(cè)試、箔片、硅片、金屬片的厚度測(cè)、試紡織材料的厚度測(cè)試、固體電絕緣體的厚度測(cè)試。

產(chǎn)品參數(shù)
1、分度值0.001mm 量程0-1mm
2
、上下測(cè)量面為平面時(shí),測(cè)量面對(duì)試樣施加的負(fù)荷為0.5N1.0N之間。
3、上下測(cè)量面為凸/平面時(shí),上測(cè)量面的曲率半徑在15-50mm)時(shí),其測(cè)量面對(duì)試樣施加的負(fù)荷為0.1N0.5N之間。
4、測(cè)量精度
100um以內(nèi) 精度1um
100um
250um 精度2um
250um
以上 精度3um

薄膜測(cè)厚儀適用于塑料薄膜、薄片的厚度測(cè)試,還可適用于紙張、紙板的厚度測(cè)試、箔片、硅片、金屬片的厚度測(cè)、試紡織材料的厚度測(cè)試、固體電絕緣體的厚度測(cè)試。

產(chǎn)品參數(shù)
1、分度值0.001mm 量程0-1mm
2
、上下測(cè)量面為平面時(shí),測(cè)量面對(duì)試樣施加的負(fù)荷為0.5N1.0N之間。
3、上下測(cè)量面為凸/平面時(shí),上測(cè)量面的曲率半徑在15-50mm)時(shí),其測(cè)量面對(duì)試樣施加的負(fù)荷為0.1N0.5N之間。
4、測(cè)量精度
100um以內(nèi) 精度1um
100um
250um 精度2um
250um
以上 精度3um

薄膜測(cè)厚儀適用于塑料薄膜、薄片的厚度測(cè)試,還可適用于紙張、紙板的厚度測(cè)試、箔片、硅片、金屬片的厚度測(cè)、試紡織材料的厚度測(cè)試、固體電絕緣體的厚度測(cè)試。

產(chǎn)品參數(shù)
1、分度值0.001mm 量程0-1mm
2
、上下測(cè)量面為平面時(shí),測(cè)量面對(duì)試樣施加的負(fù)荷為0.5N1.0N之間。
3、上下測(cè)量面為凸/平面時(shí),上測(cè)量面的曲率半徑在15-50mm)時(shí),其測(cè)量面對(duì)試樣施加的負(fù)荷為0.1N0.5N之間。
4、測(cè)量精度
100um以內(nèi) 精度1um
100um
250um 精度2um
250um
以上 精度3um







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