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X射線衍射儀在材料表征中的應用原理
X射線衍射儀是對物質和材料的組成和原子級結構進行研究和鑒定的基本手段，利用衍射原理，精確測定物質的物相、織構、平均晶粒尺寸、結晶、晶體缺陷參數(shù)及應力，對物相進行定性和定量分析。
儀器無破壞性、晶相與結構取向的量化測量、對樣品制備簡單，絕大部分樣品可在直接在大氣環(huán)境中進行。因此被廣泛的應用于汽車制造業(yè)、新材料、醫(yī)藥、半導體、顯示器、電子、工業(yè)產(chǎn)品、制藥、新能源等領域?？蛇M行普通樣品、液體樣品、納米材料、藥品、半導體、薄膜樣品測試。
X射線衍射儀原理：
將具有一定波長的X射線照射到結晶性物質上時，當X射線的波長和晶體內部原子之間的間距相近時，受到物質中原子或離子的散射，晶體機構中每個原子都產(chǎn)生散射波，散射波之間會相互干涉，產(chǎn)生衍射，衍射波在某些方向上相位得到加強，從而顯示與結晶結構相對應的*的衍射現(xiàn)象。
波長λ可用已知的X射線衍射角測定，進而求得面間隔，即結晶內原子或離子的規(guī)則排列狀態(tài)。將求出的衍射X射線強度和面間隔與已知的表對照，即可確定試樣結晶的物質結構，X射線衍射峰是由樣品各晶面族上在特定角度散射的X射線單色束通過結構干涉而產(chǎn)生的，峰強度由晶面內的原子排列來決定。
因此，X射線衍射儀給定材料的周期原子排列的特征圖譜，通過X射線粉末衍射數(shù)據(jù)庫的在線搜索功能能夠快速識別各種各樣的晶體樣品中的相。