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當前位置:北京新能聚源科技有限公司>>美國泰克TEKTRONIX>>源測量單元>> 2510泰克SourceMeter光儀器(源測量單元)
參 考 價 | 面議 |
產(chǎn)品型號2510
品 牌其他品牌
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地北京市
更新時間:2025-02-18 20:15:40瀏覽次數(shù):729次
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泰克SourceMeter光儀器(源測量單元)通過 Keithley 儀器,可以輕松構(gòu)建 LIV(光功率-電流-電壓)系統(tǒng),從而經(jīng)濟高效地測試激光二極管模塊。
光纖對準光電二極管儀表 2502 :高速模擬輸出使得可在光纖對準工作臺執(zhí)行 LIV 測試。
帶可選積分球 2520/KIT1 的脈沖激光二極管測試系統(tǒng) :同步測試系統(tǒng),為脈沖和連續(xù) LIV 測試提供純源化和測量功能。
注:此產(chǎn)品無法發(fā)貨到歐盟國家。 詳細信息 。
TEC SourceMeter SMU、2510 和 2510-AT :確保通過控制其熱電冷卻器,為激光二極管模塊提供嚴格的溫度控制。
泰克SourceMeter光儀器(源測量單元)主要特點
主動溫度控制
50W TEC控制器
全數(shù)字P-I-D控制
適用于熱控制環(huán)路的自動調(diào)諧功能(2510-AT)
寬溫度設(shè)定值范圍(-50°℃至+225℃)以及高設(shè)定值分辨率(+0.001°C)和穩(wěn)定性(士0.005°C)
兼容于多種溫度傳感器輸入一熱敏電阻、RTD和IC傳感器
交流歐姆測量功能
適用于熱反饋元件的四線開路/短路引線檢測
優(yōu)勢:
防止溫度變化可能引起激光二極管主輸出波長發(fā)生變化,導致出現(xiàn)信號重疊和串擾問題。
比其他低功耗解決方案提供更高的測試速度和更寬的溫度設(shè)定值范圍。
提供更高的溫度穩(wěn)定性,并可通過簡單的固件變化輕松升級。
無需反復(fù)試驗即可確定P、|和D系數(shù)的優(yōu)組合。
能夠滿足大部分冷卻光學元器件和子裝配件生產(chǎn)測試的測試要求。
適合常用于各類激光二極管模塊的溫度傳感器類型。
驗證TEC器件的完整性。
消除引線電阻測量值誤差,減少假故障或設(shè)備損壞的可能性。
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