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通用版3938型掃描電遷移率粒徑譜儀

商品編號: 3938L50

選擇您氣溶膠測量對的全球標(biāo)準(zhǔn)配置。 TSI掃描電遷移率粒徑譜儀(SMPS™)掃描電遷移率粒徑譜儀幫助研究者取得了氣溶膠研究的新突破，并協(xié)助校準(zhǔn)參考材料和其它氣溶膠儀器。美國國家標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)研究所（NIST）和世界各地的許多其它參考實(shí)驗(yàn)室使用TSI SMPS™進(jìn)行亞微米粒徑分布測量。TSI SMPS™掃描電遷移率粒徑譜儀是研究人員用于納米粒子粒徑分布測量的。

通用版第三代3938型掃描電遷移率粒徑譜儀SMPS采用模塊化、基于組件的設(shè)計(jì)，不但具有非常高的粒徑分辨率，還具有快速掃描（每次掃描小于15秒）和自動組件識別功能。TSI SMPS易于使用，并可以為研究人員提供最高質(zhì)量數(shù)據(jù)。

產(chǎn)品詳情

掃描遷移率粒徑譜儀(SMPS™)是一款納米級粒徑譜儀，能夠精確地測量空氣中亞微米顆粒的粒徑分布。它將電遷移率測量和單粒子計(jì)數(shù)相結(jié)合，在離散粒徑通道提供納米粒子濃度。SMPS™的高分辨率高達(dá)128個通道/10 倍粒徑，總共可達(dá)384個通道。

SMPS™3938是基于組件的，允許用戶定制他們所需要的的SMPS以匹配具體的實(shí)驗(yàn)需求。用戶可以選擇四種差分靜電遷移分析儀(DMAs)，六種凝聚核粒子計(jì)數(shù)器(CPCs)和兩種不同的氣溶膠中和器，使測量范圍從1 nm到1µm。當(dāng)SMPS與光學(xué)顆粒物粒徑譜儀(OPS)或空氣動力學(xué)粒徑譜儀(APS)耦合時，連續(xù)測量范圍可分別擴(kuò)展到10µm或20µm。

應(yīng)用

納米技術(shù)研究和材料合成
大氣研究和環(huán)境檢測
燃燒和發(fā)動機(jī)排放研究
室內(nèi)空氣質(zhì)量測量
成核/凝結(jié)研究
吸入毒理學(xué)研究

特點(diǎn)和優(yōu)勢

高分辨率數(shù)據(jù):高達(dá)384個通道
寬粒徑范圍:從1 nm到1,000 nm
符合ISO 15900:2009 標(biāo)準(zhǔn)
快速測量： <15秒掃描
濃度范圍廣，可達(dá)107個粒/cm3
模塊化組件設(shè)計(jì)，最大限度地提高靈活性
觸摸屏控制，獨(dú)立操作(不需要電腦)
輕松設(shè)置，無需工具安裝和自動檢測組件
離散粒子測量：適用于多模式樣品
粒徑測量與粒子和流體的光學(xué)特性無關(guān)
廣泛的系統(tǒng)選擇：可選擇水或丁醇CPC;選擇傳統(tǒng)或非放射性中和器

包含組件

與您自選DMA差分靜電遷移率分析儀配套的靜電分級器
七款凝聚粒子計(jì)數(shù)器之一
Aerosol Instrument Manager®氣溶膠儀器管理軟件

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