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產(chǎn)地類別	國(guó)產(chǎn)	價(jià)格區(qū)間	面議
儀器種類	差示掃描量熱儀	應(yīng)用領(lǐng)域	醫(yī)療衛(wèi)生,地礦,電子/電池,鋼鐵/金屬,航空航天

差熱分析儀

簡(jiǎn)要描述：FZ-DZ3320A差熱分析儀是在程序控制溫度下，測(cè)量物質(zhì)與參比物之間的溫度差與溫度關(guān)系的一種技術(shù)。差熱分析曲線是描述樣品與參比物之間的溫度（△T）隨溫度或時(shí)間的變化關(guān)系。在DTA試驗(yàn)中，樣品溫度的變化是由于相轉(zhuǎn)變或反應(yīng)的吸熱或放熱效應(yīng)引起的。如：相轉(zhuǎn)變，熔化，結(jié)晶結(jié)構(gòu)的轉(zhuǎn)變，沸騰，升華，蒸發(fā)，脫氫反應(yīng)，斷裂或分解反應(yīng)，氧化或還原反應(yīng)，晶格結(jié)構(gòu)的破壞和其他化學(xué)反應(yīng)。

差熱分析儀是在程序控制溫度下，測(cè)量物質(zhì)與參比物之間的溫度差與溫度關(guān)系的一種技術(shù)。差熱分析曲線是描述樣品與參比物之間的溫度(△T)隨溫度或時(shí)間的變化關(guān)系。在DTA試驗(yàn)中，樣品溫度的變化是由于相轉(zhuǎn)變或反應(yīng)的吸熱或放熱效應(yīng)引起的。如：相轉(zhuǎn)變，熔化，結(jié)晶結(jié)構(gòu)的轉(zhuǎn)變，沸騰，升華，蒸發(fā)，脫氫反應(yīng)，斷裂或分解反應(yīng)，氧化或還原反應(yīng)，晶格結(jié)構(gòu)的破壞和其他化學(xué)反應(yīng)。

差熱分析儀特點(diǎn)：

1.儀器主控芯片采用Cortex-M3內(nèi)核ARM控制器，運(yùn)算處理速度更快，溫度控制更。

2.采用USB雙向通訊，操作更便捷。

3.采用7寸24bit色全彩LCD觸摸屏，界面更友好。

4.采用鎳鉻合金傳感器，更耐高溫、抗腐蝕、抗氧化。

技術(shù)參數(shù):

1. 溫度范圍: 室溫~1150℃

2. 量程范圍: 0～±2000μV

3. DTA精度: 0.01μV

4. 升溫速率: 1～80℃/min

5. 溫度分辨率: 0.1℃

6. 溫度準(zhǔn)確度: ±0.1℃

7. 溫度重復(fù)性: ±0.1℃

8. 溫度控制: 升溫：程序控制可根據(jù)需要進(jìn)行參數(shù)的調(diào)整

恒溫：程序控制恒溫時(shí)間任意設(shè)定

9. 爐體結(jié)構(gòu): 爐體采用上開蓋式結(jié)構(gòu)，代替了傳統(tǒng)的升降爐體，精度高，易于操作

10.氣氛控制: 內(nèi)部程序自動(dòng)切換

11.數(shù)據(jù)接口: 標(biāo)準(zhǔn)USB接口配套數(shù)據(jù)線和操作軟件

12.顯示方式: 24bit色 7寸 LCD觸摸屏顯示

13.參數(shù)標(biāo)準(zhǔn): 配有標(biāo)準(zhǔn)物，帶有一鍵校準(zhǔn)功能，用戶可自行對(duì)溫度進(jìn)行校正

14.基線調(diào)整: 用戶可通過基線的斜率和截距來調(diào)整基線

15.工作電源: AC 220V 50Hz

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