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| 參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)
品 牌Freiberg Instruments
廠(chǎng)商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地上海市
更新時(shí)間：2024-10-28 16:50:39瀏覽次數(shù)：170次
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HORIBA 全自動(dòng)熒光光譜儀FluoroMax-4
| 價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 儀器種類(lèi) | 雙晶衍射 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
確定單晶的晶格取向，使用Omega掃描方法的超高速晶體定位，測(cè)量立方晶體任意未知取向的測(cè)定，特別設(shè)計(jì)用于點(diǎn)陣方向的方位設(shè)置和標(biāo)記。氣冷式x射線(xiàn)管，無(wú)需水冷，
適合于研究和生產(chǎn)質(zhì)量控制。 X射線(xiàn)單晶定向儀
產(chǎn)品介紹：
技術(shù)特點(diǎn)
確定單晶的晶格取向
使用Omega掃描方法的超高速晶體定位測(cè)量
立方晶體任意未知取向的測(cè)定
特別設(shè)計(jì)用于點(diǎn)陣方向的方位設(shè)置和標(biāo)記
氣冷式x射線(xiàn)管，無(wú)需水冷
適合于研究和生產(chǎn)質(zhì)量控制
X射線(xiàn)單晶定向儀
所有想要的晶體方向參數(shù)在5秒內(nèi)一次旋轉(zhuǎn)中被捕獲
可測(cè)量材料的例子
? 立方/任意未知方向：Si， Ge， GaAs， GaP， InP
? 立方/特殊取向：Ag， Au， Ni， Pt， GaSb， InAs， InSb， AlSb， ZnTe， CdTe， SiC3C， PbS， PbTe， SnTe， MgO， LiF， MgAl2O4， SrTiO3， LaTiO3
? 正方：MgF2， TiO2， SrLaAlO4
? 六方/三角：SiC 2H， 4H， 6H， 15R， GaN， ZnO， LiNbO3， SiO2（石英），Al2O3（藍(lán)寶石），GaPO4， La3Ga5SiO14
? 斜方晶系：Mg2SiO4 NdGaO3
? 可根據(jù)客戶(hù)的要求進(jìn)一步選料
X射線(xiàn)單晶定向儀
DDCOM的應(yīng)用
平面方向的標(biāo)記和測(cè)量
在晶圓片的注入和光刻過(guò)程中，需要平面或凹槽作為定位標(biāo)記。切割過(guò)程中，晶片必須正確地對(duì)準(zhǔn)晶圓片上易于切割的晶格面。因此，檢查平面或缺口的位置至關(guān)重要。
為了確定平面或缺口的位置，就需要測(cè)量平面內(nèi)的部件。由于Omega掃描法可以在一次測(cè)量中確定完整的晶體方位，基于此，便可以直接識(shí)別在平面方向或檢查方向的單位或缺口。
DDCOM通過(guò)旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)盤(pán)，可以將任何平面方向轉(zhuǎn)換成用戶(hù)的特定位置。在必須定義平面方向的情況下，這可以極大簡(jiǎn)化將標(biāo)記應(yīng)用到特定平面方向的過(guò)程。
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