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當前位置：鄭州偉創(chuàng)檢測設備有限公司>>實驗室常用設備>>實驗天平>> METTLER梅特勒分析天平XP105DR
| 參 考 價 | 面議 |
產(chǎn)品型號
品 牌
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
所 在 地
更新時間：2024-11-13 09:50:03瀏覽次數(shù)：353次
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| 參數(shù)名稱 | 參數(shù)值 |
| 稱量值 | 120 g |
| 精細量程的稱量值 | 31g |
| 可讀性 | 0.1mg |
| 精細量程的可讀性 | 0.01mg |
| 重復性 | 正常加載(sd) 0.06mg（100g） |
| 重復性 | 微量加載 0.05mg（10g） |
| 重復性 | 精細量程微量加載 0.015mg（10g） |
| 線性 | 0.15mg |
| 四角誤差 | 0.2mg（50g） |
| 靈敏度漂移（10-30°C） | 1x10-6/°C |
| 接口更新速率 | 23/s |
| 天平外型尺寸(W×D×H mm) | 263×486.5×322 |
| 秤盤尺寸(W×D mm) | 76×73 |
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