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Superlum超輻射發(fā)光二極管(SLD)/寬帶光源

    Superlum公司是國際的的超發(fā)光二極管（Superluminescent Diodes, SLD）和各種光源模塊制造商。幾十年來一直致力于制造高質(zhì)量的SLD、增益芯片模塊和半導(dǎo)體光放大器（Semiconductor optical amplifiers, SOA）。憑借長期的SLD研發(fā)歷史，提供670 – 1620 nm光譜范圍的SLD模塊以及800 – 1000 nm光譜范圍的寬帶SOA和掃描波長可調(diào)諧半導(dǎo)體激光器。昊量光電作為Superlum在中國區(qū)的代理商，可以為客戶提供相應(yīng)的產(chǎn)品和服務(wù)。

Superlum超輻射發(fā)光二極管(SLD)/寬帶光源的產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于：

生物醫(yī)學(xué)

光學(xué)相干斷層掃描（Optical coherence Tomography, OCT）、

光纖陀螺儀、

布拉格光柵傳感器、

原子力顯微鏡、

光纖組件計量（包括DWDM組件測試）、

機器視覺等

一、超輻射發(fā)光二極管（SLD）

    主要產(chǎn)品可以提供自由空間 SLD 和基于單橫光纖或者保偏光纖SLD,覆蓋不同光譜波段從 650 nm 到 1620 nm，輸出功率可達 100 mW，寬帶可帶 100 nm FWHM。

可根據(jù)要求提供定制性能特征和不同的封裝類型。為了方便客戶，模塊可以配備合適的電流和溫度控制器。

二、Superlum寬帶光源 Broadband Light Sources

Superlum 提供多種基于 SLD 的寬帶光源。這些產(chǎn)品包括用于集成到大型系統(tǒng)中的緊湊型光源模塊和為工業(yè)和研究實驗室開發(fā)的臺式儀器。各種設(shè)計允許對 SLD 模塊進行模擬或數(shù)字控制。所有光源都集成了高精度驅(qū)動電子設(shè)備，提供穩(wěn)定可靠的性能。所有光源均符合 RoHS 標準。

產(chǎn)品系列	圖片	描述介紹
SLD-uCS		SLD-uCS 系列超緊湊型寬帶光源模塊。具有模擬 SLD 控制的超緊湊型單 SLD 寬帶光源。 9-30 V 直流供電。10 kHzSLD 調(diào)制。 可切換 SLD 控制模式 （ACC-APC）?？梢曰?Superlum 的任何 SLD 構(gòu)建，前提是其驅(qū)動電流不超過 300 mA。SLD-mCS 光源模塊的小型化版本，具有相同的連接器/引腳布局和控制裝置，基底面為 60 x 79 mm。
SLD-mCS		SLD-mCS，sCS系列是小型寬帶光源模塊，包含模擬控制的微型單SLD寬帶光源。9-30V 電源供電。LD可調(diào)制達50-kHz。控制模式ACC-APC可切換。可以集成任何superlum驅(qū)動電流不超過400mA的SLD。
SLD-sCS
SLD-CS		SLD-CS系列緊湊型高功率寬帶光源模塊具有高的輸出功率，內(nèi)置光隔離器，高穩(wěn)定性，單模尾纖輸出。9-30 V DC供電， SLD可調(diào)制達50-kHz。 9-30V 電源供電?？刂颇Ｊ紸CC-APC可切換?？梢约扇魏蝧uperlum驅(qū)動電流不超過400mA的SLD。
BLM2-D		BLM2-D系列微型寬帶光源集成了兩個不同波段的SLDs。具有高達200nm的超寬發(fā)射光譜，高達12mW的輸出光功率，超高穩(wěn)定性，低噪聲，5V直流供電，RS-232和 TTL控制，結(jié)構(gòu)緊湊（100*120*31mm）。
cBLMD		cBLMD系列緊湊型寬帶光源模塊具有可擴展的帶寬，集成兩個或者三個不同波長的SLD，高輸出功率，集成電流和溫度控制器具有高的穩(wěn)定性，內(nèi)置隔離器可選，無光隔離模塊可以被用于系統(tǒng)集成在光回反不超過-30dB的條件下。12V直流供電，RS-232和 TTL控制。 結(jié)構(gòu)緊湊（190*110*31mm）。
M-S		M-S具有高功率單SLD臺式光源，集成光隔離器，輸出功率高達30mW。
M-D,M-T,M-Q		M-D，M-T和 M-Q系列寬帶光源具有擴展帶寬的多SLD臺式寬帶光源。輸出功率高達20mW，帶寬可以達到200nm以上。

相關(guān)拓展：

SLD光譜光源等主要在搭建科研及工業(yè)OCT系統(tǒng)（相干斷層成像系統(tǒng)），起到很重要的作用，是主要部件之一，特別是譜域SD-OCT。以下是典型的原理示意圖：

OCT結(jié)合低相干干涉測量技術(shù)和對樣品的掃描生成一系列橫截面圖像或3D體積圖像。低相干干涉測量有幾種實現(xiàn)方式，但目前主流方式有兩種：掃頻源光學(xué)相干斷層掃描（SS-OCT：Swept Source optical coherence tomography）和光譜域光學(xué)相干斷層掃描（SD-OCT：Spectral Domain optical coherence tomography）。這兩種方法都使用多波長激光照射樣品，然后測量返回的不同波長的散射光，通過對光譜進行傅里葉變換來檢測不同深度的結(jié)構(gòu)。

掃頻源OCT（SS-OCT）中，會使用一臺掃頻激光器對波長進行逐一掃描，并使用單點光電探測器捕捉信號。而在光譜域OCT（SD-OCT）中，則使用寬帶激光源（SLD，SLED，超連續(xù)譜光源）結(jié)合具有線陣相機的光譜儀進行信號采集。