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產(chǎn)品分類品牌分類
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產(chǎn)品簡介
詳細介紹
附加功能
頻率范圍：10 MHz-50 GHz
104 dB 的動態(tài)范圍和 <0.006 dB 的跡線噪聲
<26 微秒/點測量速度，32 個通道，16,001 個點
TRM/LRM 校準可實現(xiàn)最準確的晶圓上、夾具內(nèi)、波導(dǎo)和天線測量
混頻器轉(zhuǎn)換損耗、回波損耗、隔離度和絕對群延遲
放大器增益壓縮、諧波、IMD 和脈沖射頻
Agilent E8364B 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀是 PNA 系列網(wǎng)絡(luò)分析儀平臺的成員，結(jié)合了速度和精度，可滿足當(dāng)今高頻、高性能元件測試的苛刻需求。
是德科技（安捷倫）E8364B 的特點：
高動態(tài)范圍：測試端口 20 GHz 時為 127 dB
快速測量速度：4.5 至 26 微秒/點
高穩(wěn)定性：0.05 dB/攝氏度
校準能力和廣泛的電子校準件模塊
混頻器和脈沖測量的高級應(yīng)用
單端和平衡測量
32 個測量通道，無限軌跡，每通道 16,001 個點
連接 Open Windows XP、6 個 USB 連接器、LAN 和 GPIB
Keysight (Agilent) E8364B 的功能：
攪拌機測量：
轉(zhuǎn)換損耗/增益、幅度和相位
輸入匹配、輸出匹配和 LO 匹配
隔離壓縮
兩個具有 +13 dBm 功率和 < 60 dBc 諧波的內(nèi)部獨立合成器消除了對外部合成器或組件的需要。
高級糾錯
獲得的矢量混頻器校準，用于測量絕對群延遲
用于匹配校正幅度測量的標量混頻器校準 (SMC)
固定中頻的速度明顯加快（比使用外部源快 20 到 30 倍）
易于配置的多級轉(zhuǎn)換器測量
LO 源控制和 LO 功率校準
調(diào)音臺IMD
簡單的兩步 SMC 校準提供匹配校正轉(zhuǎn)換損耗、誤差校正輸入和輸出匹配
嵌入式 LO 的軟件調(diào)諧
放大器測量：
Gain、gain latness、reverse isolation、return loss
使用增益壓縮應(yīng)用程序進行簡單、快速和準確的 AM-AM 和 AM-PM 壓縮測量，在 20 GHz 時具有 38 dB 功率掃描范圍，+13 dBm 輸出功率
使用 < 60 dBc 的源諧波準確測試諧波。無需外部過濾器。
使用位于耦合器后面的雙源和內(nèi)部組合器的精確和簡單的 IMD，提供高度精確和穩(wěn)定的測量。無需外部組合器。
具有出色精度的源校正噪聲系數(shù)測量
用于測量優(yōu)化的集成源衰減器和接收器衰減器
使用 PNA–X 通過單一連接執(zhí)行上述所有測量。
脈沖射頻測量：
寬帶和窄帶檢測
多達四個內(nèi)部脈沖發(fā)生器
最多兩個內(nèi)部脈沖調(diào)制器
脈沖寬度窄至 33 ns
脈沖到脈沖
脈沖點、平均脈沖和脈沖輪廓功能
無需外部元件
基本測量：
插入損耗、增益、回波損耗、隔離、群延遲、壓縮、幅度和相位
連接器化、夾具內(nèi)或晶圓上
快速準確
可靠且可重復(fù)
實惠
晶圓上測量：
用于精確測量的 TRL 校準等級
集成多端口網(wǎng)絡(luò)分析儀的差分測量功能
用于器件表征的精確功率控制和去嵌入算法
與晶圓上校準軟件兼容以獲得完整的解決方案
差分測量：
單端、平衡、混合模式
S參數(shù)
成比例和非成比例測量
模式轉(zhuǎn)換分析
真模式刺激測量
多端口測量：
針對您的設(shè)備優(yōu)化的多端口配置，包括全交叉
用于快速、多端口校準的快速短路開路負載直通 (QSOLT)
N 端口校準可確保準確性和易于測量
PNA 固件的測試儀控制部分
32個獨立通道，測量速度快
主營產(chǎn)品：藍牙測試儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀、頻譜分析儀、信號源信號發(fā)生器、示波器、功率計、頻率計、LCR電橋、電源、數(shù)據(jù)采集儀、噪聲系數(shù)分析儀、多用表校準儀、萬用表、天饋線測試儀安立、溫度記錄儀、邏輯分析儀、色彩分析儀、光波測量系統(tǒng)、阻抗測試治具及附件、衰減器等。
主營品牌：安捷倫、美國泰克、美國福祿克、艾法斯、日本菊水、北京普源、中國臺灣固緯、德國惠美、美國吉時利、摩托羅拉、美國力科、美國韋夫特克、德國羅德施瓦茨、英國馬可尼、英國施倫伯杰、日本安立(安利)、日本愛德萬
提供銷售-回收進口設(shè)備。歡迎咨詢。