目錄:蘇州金合博源測(cè)控技術(shù)有限公司>>元件測(cè)試儀 益和/BK/CAF>>吉時(shí)利 高阻計(jì)/靜電計(jì) 6517B>> 6517B吉時(shí)利KEITHLEY 高阻計(jì)/靜電計(jì)6517B
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更新時(shí)間：2024-07-17 18:58:41瀏覽次數(shù)：3675評(píng)價(jià)
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（英國(guó)GEN3）離子遷移測(cè)試儀CAF2（256通道）（1250V）
（益和）安規(guī)測(cè)試儀7630（支持多通道測(cè)試）
（中國(guó)臺(tái)灣BK）三路獨(dú)立直流電源LPS505N-MO（原 茂迪品牌）
（中國(guó)臺(tái)灣BK系列）精密LCR表 BK891（20HZ-300KHZ）（原 茂迪品牌）
（益和）PCB四線式導(dǎo)通耐壓測(cè)試儀9331
吉時(shí)利 高阻計(jì)/靜電計(jì) 6517B
益和8761N/8761NA/8761FA線材測(cè)試儀
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 類型 | 數(shù)字式電阻測(cè)試儀 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子/電池,航空航天,汽車及零部件,電氣 |
吉時(shí)利KEITHLEY 6517B 高阻計(jì)/靜電計(jì)
一、產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
吉時(shí)利KEITHLEY 6517B 高阻計(jì)/靜電計(jì)是一個(gè)新版本，取代了較早型號(hào)6517A(1996年推出)。Model 6517A的應(yīng)用軟件使用SCPI語(yǔ)言命令可以在Model 6517B上不做任何修改的運(yùn)行。不過(guò)，Model 6517B較 Model 6517A提供了一些有益的改進(jìn)和升級(jí)， 其內(nèi)部備份電池內(nèi)存緩沖區(qū)現(xiàn)在可以存儲(chǔ)多達(dá)50,000讀數(shù)，使用戶能夠記錄更長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試結(jié)果，并存儲(chǔ)更多的數(shù)據(jù)和讀數(shù)。新的Model還可提供至內(nèi)部 緩沖器（高達(dá)425讀數(shù)/秒的讀數(shù)率）以及通過(guò)IEEE總線至外部存儲(chǔ)器的更高讀數(shù)率（高達(dá)400讀數(shù)/秒的讀數(shù)率）。一些連接器的修改已列入解決現(xiàn)代連 接和安全要求
二、主要參數(shù)：
吉時(shí)利KEITHLEY 6517B 高阻計(jì)/靜電計(jì) 簡(jiǎn)要參數(shù)：
電阻測(cè)量可達(dá)1016Ω
電流測(cè)量范圍1fA-20mA
小電流量程輸入壓降<20µV
200TΩ輸入阻抗
<3fA偏置電流
高達(dá)425rdgs/s
噪聲0.75fA p-p
內(nèi)置±1kV電源
*的高電阻測(cè)量電壓反接方法
可選的插件式掃描卡 Tel：86-755-22934005
三、選型表：
| 型號(hào) | 電流 | 電壓 | 電阻 | 充電 | 源 |
|---|---|---|---|---|---|
| 6514 | 10aA - 100mA | 10µV - 200V | 10m? - 200G? | 10fC - 20μC | |
| 6517B | 100aA - 20mA | 10µV - 200V | 100? - 10P? | 10fC - 2μC | 0 - ±1000V |
| 6430 | 10aA - 100mA | 1µV - 200V | 1µ? - >20T? | 0 - ±200V Tel：86-755-22934005 0 - ±100mA |
| 6517B 高阻計(jì)/靜電計(jì) 特點(diǎn) | 6517B 高阻計(jì)/靜電計(jì) 優(yōu)勢(shì) |
| 超低噪聲（6430 為 0.4fAp-p，6517B 和 6514 <1fA） | 確保對(duì)設(shè)備和材料研究中常見(jiàn)的低電流實(shí)現(xiàn)精確的測(cè)量。 |
| 可達(dá) 1016? 的電阻測(cè)量 (6517B) | 精確測(cè)量超高電阻材料和絕緣體。 |
| 遠(yuǎn)程預(yù)放大器可以位于信號(hào)源 (6430) | 允許直接或短暫連接到信號(hào)源，大限度地減少電纜噪聲等噪聲源。 |
| 低輸入端壓降 | 消除影響低電流測(cè)量精度的誤差。 |
| 內(nèi)置 ±1kV 電壓源，提供掃描功能 (6517B) | 簡(jiǎn)化了執(zhí)行泄漏、擊穿和電阻測(cè)試，以及對(duì)高電阻率材料執(zhí)行體積 (?-cm) 和表面電阻率 (?/square) 測(cè)量的過(guò)程。 |
| 適用于測(cè)量試樣材料的體積和表面電阻的選配 8009 型電阻率測(cè)試盒 (6517B) | 防止您接觸潛在危險(xiǎn)電壓 — 打開測(cè)試盒蓋子時(shí)自動(dòng)關(guān)閉儀器的電壓源。 |
| 即使在低電平信號(hào)上也能實(shí)現(xiàn)很好的測(cè)量速度 | 支持低電平元器件測(cè)試。 |
| 可編程數(shù)字 I/O 和內(nèi)置接口 | 簡(jiǎn)化構(gòu)建自動(dòng)化元器件測(cè)試系統(tǒng)的過(guò)程。 |
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