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詳細(xì)介紹
Equotip 550 Leeb便攜式硬度計(jì)?
- 功能齊全的里氏硬度檢測(cè)儀適用于重型、大型或已安裝部件的現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)。堅(jiān)固的觸摸屏設(shè)計(jì)提供的用戶體驗(yàn)以及最高質(zhì)量的測(cè)量和數(shù)據(jù)分析。增強(qiáng)的軟件功能和分析功能。
Proceq 的 Equotip 可對(duì)幾乎任何物體、拋光部件及熱處理表面進(jìn)行檢測(cè)。使用動(dòng)態(tài)回彈檢測(cè)方法（依照 Leeb）、靜態(tài) Portable Rockwell 硬度檢測(cè)和超聲波接觸阻抗 (UCI) 方法進(jìn)行硬度測(cè)量。
京海興樂(lè)科技（北京）有限公司提供探傷儀儀器維修，產(chǎn)品計(jì)量，技術(shù)培訓(xùn)，產(chǎn)品說(shuō)明書(shū),產(chǎn)品配件等。；服務(wù)范圍： 船舶及船用產(chǎn)品的超聲探傷-UT；磁粉探傷-MT；滲透檢測(cè)(PT)、射線探傷-RT、渦流探傷-ET等產(chǎn)品。(奧林巴斯/汕超/美國(guó)GE/達(dá)高特/中科漢威/友聯(lián)/聲納/)配件：相控陣探頭，直探頭，斜探頭，連接線，探頭線，保護(hù)膜，試塊，耦合劑，雙晶探頭，表面波探頭，小徑管探頭，小角度探頭，水浸探頭，非金屬探頭，可拆式探頭，可變角度探頭，窄脈沖探頭、測(cè)厚探頭、高溫耦合劑及超聲探傷-UT；磁粉探傷-MT；滲透檢測(cè)(PT)、射線探傷-RT、渦流探傷-ET等產(chǎn)品。
Equotip 便攜式金屬硬度檢測(cè)儀，里氏 (Leeb)、洛氏 (Rockwell) 和超聲波接觸阻抗（UCI)
打破固定臺(tái)式硬度檢測(cè)的局限性
Proceq 的 Equotip 可對(duì)幾乎任何物體、拋光部件及熱處理表面進(jìn)行檢測(cè)。使用動(dòng)態(tài)回彈檢測(cè)方法（依照 Leeb）、靜態(tài) Portable Rockwell 硬度檢測(cè)和超聲波接觸阻抗 (UCI) 方法進(jìn)行硬度測(cè)量。這一瑞士制造的硬度檢測(cè)儀外殼堅(jiān)固，設(shè)計(jì)為在實(shí)驗(yàn)室、工場(chǎng)、生產(chǎn)設(shè)備或現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行便攜式硬度檢測(cè)。這款來(lái)自 Proceq 的全新上市的產(chǎn)品帶來(lái) Equotip Live 最I(lǐng)n 解決方案:使用藍(lán)牙與 iOS 應(yīng)用連接和*的同步技術(shù)。
自 Proceq 在 1975 年發(fā)明了 Leeb 測(cè)量原理以來(lái)，Equotip 已經(jīng)成為便攜式硬度檢測(cè)方面被全球廣泛認(rèn)可的測(cè)量技術(shù)和實(shí)際的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)?？蛇x擇不同量程范圍沖擊裝置和測(cè)試塊及配件，涵蓋了絕大部分應(yīng)用。
型號(hào)
Equotip Live UCI | Equotip Live Leeb D | Equotip 550 UCI | Equotip 550 Portable Rockwell | Equotip 550 Leeb | Equotip Piccolo / Bambino 2 |
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| 產(chǎn)品描述 | Equotip Live UCI 便攜式硬度測(cè)量計(jì)讓團(tuán)隊(duì)間的合作變得無(wú)比便捷。Equotip iOS app為您即時(shí)記錄和分析測(cè)量數(shù)據(jù)并且隨時(shí)分享給您遠(yuǎn)程的團(tuán)隊(duì)。 | 隨著無(wú)線EquotipLive Leeb D 型沖擊裝置和直觀的Equotip程序你可以測(cè)量和收集任何硬度數(shù)據(jù)表。通過(guò)自動(dòng)同步功能啟用數(shù)據(jù)的全局傳輸，并且可以通過(guò)電子郵件和其他渠道共享報(bào)告。功能包括一個(gè)安全的網(wǎng)絡(luò)平臺(tái)–集中報(bào)告模板和檔案管理，以及完整的數(shù)據(jù)跟蹤，記錄和連續(xù)的云備份防止數(shù)據(jù)丟失。Equotip Live 所有權(quán)是為最初的設(shè)立捐款和每月的小額費(fèi)用提供的——這保留了商業(yè)資本，同時(shí)允許精確的現(xiàn)金流管理。該軟件包包括免費(fèi)應(yīng)用程序和更新，加上云備份，以及更換成本低。 | 靈活的 UCI 硬度檢測(cè)儀用于具有任何形狀和熱處理表面的細(xì)粒材料。獲得可調(diào)節(jié)檢測(cè)，可負(fù)載和涵蓋廣泛的測(cè)試范圍。堅(jiān)固的觸摸屏帶有增強(qiáng)的軟件應(yīng)用和分析功能。 | 用于刮擦敏感、拋光及細(xì)小部件的便攜洛氏硬度檢測(cè)儀。它通過(guò)微米級(jí)的細(xì)小穿透，具有的靈敏度。堅(jiān)固的觸摸屏帶有增強(qiáng)的軟件應(yīng)用和分析功能。 | 功能齊全的里氏硬度檢測(cè)儀適用于重型、大型或已安裝部件的現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)。堅(jiān)固的觸摸屏設(shè)計(jì)提供的用戶體驗(yàn)以及最高質(zhì)量的測(cè)量和數(shù)據(jù)分析。增強(qiáng)的軟件功能和分析功能。 | 結(jié)構(gòu)小巧、外殼堅(jiān)固的高集成一體式里氏 硬度檢測(cè)儀。非常適合快速現(xiàn)場(chǎng)硬度檢測(cè)。為狹窄空間和凹面提供可選的 DL 探頭。Equotip Piccolo 2 可將數(shù)據(jù)傳送至電腦。 |
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| 優(yōu)勢(shì) |
無(wú)線 UCI 探頭
即時(shí)分享您的測(cè)量和報(bào)告
實(shí)現(xiàn)完整數(shù)據(jù)可追溯性的記錄表 |
無(wú)線沖擊裝置和簡(jiǎn)潔的用戶界面
輕松地在世界范圍內(nèi)實(shí)時(shí)共享測(cè)量和報(bào)告
全數(shù)據(jù)的可追溯性記錄和媒體添加 |
與 Leeb 和 Portable Rockwell 相結(jié)合
屏幕反饋以減少由操作員引起的測(cè)量誤差
內(nèi)置強(qiáng)大的報(bào)告功能，隨時(shí)準(zhǔn)備好可用的數(shù)據(jù)資料 |
與 Leeb 和 UCI 相結(jié)合
與固定式 Rockwell 硬度檢測(cè)儀同樣可靠、準(zhǔn)確和標(biāo)準(zhǔn)化，但比之更快
內(nèi)置強(qiáng)大的報(bào)告功能，隨時(shí)準(zhǔn)備好可用的數(shù)據(jù)資料 |
可使用完整的 Leeb 探頭包，并與 Portable Rockwell 和 UCI 相結(jié)合
具有所有 Equotip 產(chǎn)品倍受肯定的高精度
內(nèi)置強(qiáng)大的報(bào)告功能，隨時(shí)準(zhǔn)備好可用的數(shù)據(jù)資料 |
快速現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)的入門(mén)級(jí)型號(hào)
緊湊外殼和自動(dòng)角度糾正便于靈活使用
具有所有 Equotip 產(chǎn)品倍受肯定的高精度 |
| 默認(rèn)單位 | HV (UCI) | HL | HV (UCI) | μm, µinch | HL | HL |
| 可用單位 | HB, HV, HLD, HRA, HRB, HRC, HR15N, HR15T, MPA | HB, HV, HRB, HRC, HS, MPA | HB, HV, HRA, HRB, HRC, HR15N, HR15T, MPA | HB, HV, HRA, HRB, HRC, R15N, HR15T, HMMRC, MPA | HB，HV，HRA，HRB，HRC，HS，MPA | HB, HV, HRB, HRC, HS, MPA（僅 Equotip Piccolo 2） |
| 可用探頭 | 具有從 HV1 至 HV10 可調(diào)節(jié)測(cè)試負(fù)載的通用探頭 | Leeb D | UCI（可調(diào)節(jié) HV1 – HV5） | Portable Rockwell (50N) | Leeb D / DC / DL / S / E / G / C | Leeb D / DL |
| 與其他方法相結(jié)合 | 否 | Leeb，Portable Rockwell | Leeb，UCI | Portable Rockwell，UCI | ||
| 平均粗糙度 Ra (µm / µinch) | 12.5 / 500 | 2 / 80 | 12.5 / 500 | 2 / 80 | 7 / 275 (Leeb G) | 2 / 80 |
| 最小質(zhì)量 (kg/lbs) | 0.3 / 0.66 | 0.05 / 0.2 | 0.3 / 0.66 | 無(wú)要求 | 0.02 / 0.045 (Leeb C) | 0.05 / 0.2 |
| 最小厚度 (mm/inch) | 5 / 0.2 | 3 / 0.12 | 5 / 0.2 | 10 x 壓入深度 | 1 / 0.04 (Leeb C) | 3 / 0.12 |
應(yīng)用
Equotip Live UCI | Equotip Live Leeb D | Equotip 550 UCI | Equotip 550 Portable Rockwell | Equotip 550 Leeb | Equotip Piccolo / Bambino 2 |
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| 標(biāo)準(zhǔn)到大對(duì)象 | ||||||
| 圓形對(duì)象 | 與支撐環(huán)結(jié)合使用 | 與支撐環(huán)結(jié)合使用 | 與支撐環(huán)結(jié)合使用 | |||
| 輕薄對(duì)象 | 帶有沖擊裝置 Leeb C | |||||
| 非常堅(jiān)硬的對(duì)象 | 帶有沖擊裝置 Leeb S 和 E | |||||
| 鑄件 | 帶有沖擊裝置 Leeb G | |||||
| 拋光的對(duì)象 | 帶有沖擊裝置 Leeb C | |||||
| 不易接觸 | 帶有沖擊裝置 Leeb DC 和 DL | 帶有沖擊裝置 Leeb DL | ||||
| 細(xì)小對(duì)象 | ||||||
| 熱處理表面 | ||||||
| 其他應(yīng)用 |
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功能
Equotip Live UCI | Equotip Live Leeb D | Equotip 550 UCI | Equotip 550 Portable Rockwell | Equotip 550 Leeb | Equotip Piccolo / Bambino 2 |
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| 儀器固件 |
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| PC 軟件 | 基于瀏覽器的 Equotip Live 解決方案 | 基于瀏覽器的 Equotip Live 解決方案 | Equotip Link 可提供直接報(bào)告和自定義報(bào)告 | Equotip Link 可提供直接報(bào)告和自定義報(bào)告 | Equotip Link 可提供直接報(bào)告和自定義報(bào)告 | Piccolink 軟件（僅 Equotip Piccolo 2） |
| 顯示屏 | 任何 iOS 設(shè)備（交貨時(shí)并未包括） | 任何 iOS 設(shè)備（交貨時(shí)并未包括） | 7”堅(jiān)固的彩色觸摸屏裝置（800 x 480 像素），雙核處理器 | 7“帶雙核處理器的彩色堅(jiān)固的觸摸屏裝置（800×480像素） | 7“帶雙核處理器的彩色堅(jiān)固的觸摸屏裝置（800×480像素） | 單色 4 位數(shù)字 |
| 內(nèi)存 | iOS 設(shè)備的內(nèi)存 | iOS 設(shè)備的內(nèi)存 | 內(nèi)置 8 GB 閃存（> 1000000 個(gè)測(cè)量值） | 內(nèi)置 8 GB 閃存（> 1000000 個(gè)測(cè)量值） | 內(nèi)置 8 GB 閃存（> 1000000 個(gè)測(cè)量值） | 32 KB（大約 2000 個(gè)讀數(shù)）（僅限 Equotip Piccolo 2） |
| 連接 | 用于充電和更新的 USB | 用于充電和更新的USB | USB 主機(jī)/設(shè)備和以太網(wǎng) | USB 主機(jī)/設(shè)備和以太網(wǎng) | USB 主機(jī)/設(shè)備和以太網(wǎng) | 至 PC 的 USB 接口 |
| 測(cè)量范圍 | 20 – 2000 HV | 150 - 950 HL | 20 – 2000 HV | 0-100 µm；19-70 HRC；35-1‘000 HV | 150 – 950 HL | 150 - 950 HL |
| 測(cè)量精度 | ± 2% (150 – 950 HV) | ± 4 HL（800 HL 時(shí)為 0.5%） | ± 2% (150 – 950 HV) | ± 0.8 µm; ~ ± 1.0 HRC | ± 4 HL（800 HL 時(shí)為 0.5%） | ± 4 HL（800 HL 時(shí)為 0.5%） |
標(biāo)準(zhǔn)化
Equotip Live UCI | Equotip Live Leeb D | Equotip 550 UCI | Equotip 550 Portable Rockwell | Equotip 550 Leeb | Equotip Piccolo / Bambino 2 |
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| 標(biāo)準(zhǔn) |
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| 準(zhǔn)則 |
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配件
Equotip Live UCI | Equotip Live Leeb D | Equotip 550 UCI | Equotip 550 Portable Rockwell | Equotip 550 Leeb | Equotip Piccolo / Bambino 2 |
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| 測(cè)量配件 |
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| 驗(yàn)證工具 | Equotip 測(cè)試塊 D/DC，~775 HLD / ~56 HRC，Proceq 出廠校準(zhǔn) (357 13 100) | Equotip UCI 測(cè)試塊 ~850HV，ISO 6507-3 HV5 校準(zhǔn) (357 54 100) | Equotip Portable Rockwell 測(cè)試塊 ~62 HRC，ISO 6508-3 HRC 校準(zhǔn) (357 44 100) |
| Equotip 測(cè)試塊 D/DC，~775 HLD / ~56 HRC，Proceq 出廠校準(zhǔn) (357 13 100) |
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