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詳細摘要： 雙晶探頭裝有兩個晶片的探頭，一個作為發(fā)射器，另一個作為接收器。又稱分割式探頭、或者聯合雙探頭。雙晶探 頭主要由插座、外殼、隔聲層、發(fā)射晶片、接收晶片、延遲塊等組...

詳細摘要： 水浸式探頭水浸式探頭，通常用于半自動或者自動化探傷系統(tǒng)中。工件和探頭浸入水中，探頭與工件的檢測面之間保持一定距離的“水延遲"。探頭并不直接接觸工件，因此不規(guī)則的...

詳細摘要： UMX-2測厚儀PT-174-2006水下探頭UMX-2有強大的防水功能（滿足IP68標準），可在水下300米正常工作，有同時測量金屬基體和表面非金屬涂層厚度的...

詳細摘要： UMX-2測厚儀PT-174-9700水下探頭UMX-2有強大的防水功能（滿足IP68標準），可在水下300米正常工作，有同時測量金屬基體和表面非金屬涂層厚度的...

詳細摘要： UMX-2測厚儀PT-074-2906水下探頭UMX-2有強大的防水功能（滿足IP68標準），可在水下300米正常工作，有同時測量金屬基體和表面非金屬涂層厚度的...

詳細摘要： B2S（57745）美國GE保護膜探頭應用用于檢測簡單形狀的工件中平行于表面的缺陷鍛件、鑄件金屬材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料板材、棒材、方形材容器、機器零件、殼...

詳細摘要： B1S-EN（500035）保護膜探頭應用用于檢測簡單形狀的工件中平行于表面的缺陷鍛件、鑄件金屬材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料板材、棒材、方形材容器、機器零件、殼...

詳細摘要： B2S-EN（500036）美國GE保護膜探頭應用用于檢測簡單形狀的工件中平行于表面的缺陷鍛件、鑄件金屬材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料板材、棒材、方形材容器、機器...

詳細摘要： B1S（57744）保護膜探頭應用用于檢測簡單形狀的工件中平行于表面的缺陷鍛件、鑄件金屬材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料板材、棒材、方形材容器、機器零件、殼體

詳細摘要： B4S（57746）美國GE保護膜探頭應用用于檢測簡單形狀的工件中平行于表面的缺陷鍛件、鑄件金屬材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料板材、棒材、方形材容器、機器零件、殼...

詳細摘要： B4S-EN（500037）美國GE保護膜探頭B4S-EN應用：B4S-EN配套USM88;B4S-EN配套USM36;B4S-EN配套USMGO+;B4S-E...

詳細摘要： 內置前放型聲發(fā)射傳感器型　　號：AE144SA40-BNC/AE304SA40-BNC...外形尺寸：23.5mm*39.5mm...產品重量：56g...富士...

詳細摘要： AE503S AE504S AE105S富士聲發(fā)射傳感器諧振式聲發(fā)射傳感器:AE303S；AE503S；AE104S；AE144S；AE204S；AE304S；...

詳細摘要： M109-RM M109-SM接觸式探頭50.513M109-RM，M109-SMU8400027，U8400028

詳細摘要： TOFD探頭 SIUI汕超TOFD探頭TOFD探頭 STOFD探頭配合相應的楔塊可在鋼等被檢材料中產生需要的折射縱波，利用這些縱波通過衍射時差技術對材料中的裂紋...

詳細摘要： 直探頭斜探頭窄脈沖探頭分割式探頭水浸探頭高性能工業(yè)超聲檢測探頭 SIUI向用戶提供超過500種以上的工業(yè)超聲探頭產品，包括相控陣探頭、直探頭、斜探頭、窄脈沖探頭...

詳細摘要： TOFD探頭 TOFD探頭 TOFD探頭汕頭“超聲電子"*新推出高分辨率縱波探頭,產品性能指標達到先*水平（包括振蕩周期在一個半周期以內），特別適合TOFD檢測...

詳細摘要： BH-50汕超BH-50回波探頭由直探頭+延遲塊組合而成，用于儀器的性能檢查。回波探頭直接連接到超聲波探傷儀，產生 50mm 鋼聲程的多次回波。

詳細摘要： 直探頭 斜探頭 小徑管探頭 分割式探頭SIUI向用戶提供超過500種以上的工業(yè)超聲探頭產品，包括相控陣探頭、直探頭、斜探頭、窄脈沖探頭、分割式探頭、水浸探頭、聚...

詳細摘要： 復合材料探頭使用高性能的壓電復合材料，在提升靈敏度的同時也帶來更好的信噪比。在各種粗晶及纖維結構等高衰減比傳統(tǒng)壓電晶片探頭擁有更高的穿透力，脈沖寬度更短使得縱向...