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詳細(xì)介紹
B4S-EN（500037）美國GE保護(hù)膜探頭
B4S-EN應(yīng)用：B4S-EN配套USM88;B4S-EN配套USM36;B4S-EN配套USMGO+;B4S-EN配套USM87;B4S-EN配套CTS-1002;B4S-EN配套PXUT-350N ........
用于檢測(cè)簡(jiǎn)單形狀的工件中平行于表面的缺陷
鍛件、鑄件
金屬材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料
板材、棒材、方形材
容器、機(jī)器零件、殼體
類型 | 訂購號(hào)碼 | D | f | N | 備注 | ||
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| mm | in | (MHz) | mm | in |
|
B1S | 57744 | 24 | 0.94 | 1 | 23 | 0.9 |
|
B1S-EN | 500035 | 24 | 0.94 | 1 | 23 | 0.9 | 符合 DIN EN 12668-2 |
B1S-O | 57755 | 24 | 0.94 | 1 | 23 | 0.9 | 頂端接口 |
B2S | 57745 | 24 | 0.94 | 2 | 45 | 1.8 |
|
B2S-EN | 500036 | 24 | 0.94 | 2 | 45 | 1.8 | 符合 DIN EN 12668-2 |
B2S-O | 57756 | 24 | 0.94 | 2 | 45 | 1.8 | 頂端接口 |
B2S-O-EN | 500267 | 24 | 0.94 | 2 | 45 | 1.8 | 符合 DIN EN 12668-2 頂端接口 |
B4S | 57746 | 24 | 0.94 | 4 | 88 | 3.5 |
|
B4S-EN | 500037 | 24 | 0.94 | 4 | 88 | 3.5 | 符合 DIN EN 12668-2 |
B4S-O | 57757 | 24 | 0.94 | 4 | 88 | 3.5 | 頂端接口 |
B4S-O-EN | 500268 | 24 | 0.94 | 4 | 88 | 3.5 | 符合 DIN EN 12668-2 頂端接口 |
B5S | 57747 | 24 | 0.94 | 5 | 110 | 4.3 |
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應(yīng)用
用于檢測(cè)簡(jiǎn)單形狀的工件中平行于表面的缺陷
鍛件、鑄件
金屬材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料
板材、棒材、方形材
容器、機(jī)器零件、殼體
特點(diǎn)
縱波單晶探頭
適合DGS缺陷評(píng)判
性能參數(shù)誤差小，適合高精度檢測(cè)
可更換保護(hù)膜，保護(hù)探頭不被磨損
柔性保護(hù)膜，即使是在粗糙或輕微彎曲的表面上也能很好地耦合
合金壓鑄殼體，堅(jiān)固耐用
用于高溫檢測(cè)時(shí)可加裝高溫延遲塊（定制產(chǎn)品）
附件
描述 | 類型 | 備注 |
保護(hù)膜 （1套=10片） | ES45(53756) ES24(53769) | 用于B..S; 用于MS..S |
延遲塊或斜塊 | 特殊訂單 | 如用于高溫檢測(cè) |
電纜線 | PKLL2(50326) MPKL2(50486) | 用于B..S; 用于MS..S |
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