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PE高性能ICP-OES及其應(yīng)用
閱讀：349 發(fā)布時(shí)間：2018-12-30| 提 供 商 | 上海斯邁歐分析儀器有限公司 | 資料大小 | 2.8MB |
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五屆原子光譜大會(huì)上珀金埃爾默的資深產(chǎn)品專家高光曄老師帶來了題為“高性能ICP-OES及其應(yīng)用” 的報(bào)告，他介紹了與普通光譜儀*不同的高性能電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀（HP-ICP-OES）儀器類型及其測試方法，可實(shí)現(xiàn)相對(duì)擴(kuò)展不確定度優(yōu)于0.1% 。
PE高性能電感耦合等離子體發(fā)射光譜法（HP-ICP-OES），其中一個(gè)關(guān)鍵點(diǎn)在于如何校正 ICP-OES儀器測量的漂移，從而降低測量的不確定度，另一個(gè)關(guān)鍵點(diǎn)是高性能 ICP-OES 的儀器硬件要求。HP-ICP-OES 可以與傳統(tǒng)分析（重量和滴定法）一樣進(jìn)行主量測定和微量測定，通常直接引入到儀器的濃度為10mg/kg，并且干擾元素濃度不足以形成干擾，所以也*。相對(duì)傳統(tǒng)分析，HP-ICP-OES 的自動(dòng)化使得增加樣品中的分析元素成本幾乎不會(huì)增加。