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詳細摘要： FE-SEM獲得的圖像分辨率高，信息豐富，樣品處理相對簡單，并且它可以觀察、測量并分析樣品的細微結(jié)構(gòu)，因此被廣泛應(yīng)用于納米技術(shù)、半導(dǎo)體、電子器件、生命科學(xué)、材料...

詳細摘要： 日立高新場發(fā)射掃描電子顯微鏡SU8200系列（HITACHI UHR FE-SEM SU8200 Series，SU8220，SU8230，SU8240）采用日...

詳細摘要： 日立高新技術(shù)公司（以下簡稱：日立高新）8月4日開始發(fā)售的肖特基式場發(fā)射掃描電子顯微鏡“SU5000“，搭載了全新的用戶界面和“EM Wizard“，無論用戶的操...

詳細摘要： 日立高新技術(shù)公司于2016年4月15日在全球發(fā)布了新型掃描電子顯微鏡——FlexSEM 1000。該產(chǎn)品結(jié)構(gòu)緊湊，占地面積小，但分辨率不輸大型電鏡，同時操作極其...

詳細摘要： “Regulus系列“是日立高新技術(shù)的FE-SEM的全新品牌，包括作為SU8010的后續(xù)機型開發(fā)的 “Regulus8100“ 以及SU8200系列的升級 “R...

詳細摘要： “Regulus系列“是日立高新技術(shù)的FE-SEM的全新品牌，包括作為SU8010的后續(xù)機型開發(fā)的 “Regulus8100“ 以及SU8200系列的升級 “R...

詳細摘要： “TM4000"和“TM4000Plus"可簡化從樣品觀察、圖像確認到生成報告等一系列操作過程，大幅提高了工作效率。還標(biāo)配了報告生成功能，觀察結(jié)束后可十分輕松地...

詳細摘要： 此次推出的SU7000采用全新設(shè)計的探測器，使得對二次電子信號、背散射電子信號的檢測以及分離能力大大提升。

詳細摘要： 對超大樣品不施以加工處理，便可直接觀察表面微細形貌和進行各種分析則成為重要的課題。

詳細摘要： 在以納米技術(shù)和生物技術(shù)為主的產(chǎn)業(yè)領(lǐng)域里，從物質(zhì)的微細結(jié)構(gòu)到組成成分，SEM在多種多樣的觀察與分析中得到了靈活應(yīng)用。SEM用途日益擴大，但對于鋼鐵等工業(yè)材料和汽車...