詳細(xì)介紹
*在紅外顯微鏡中采用無限校正光學(xué)技術(shù)(Infinity Corrected Optics),改變過去聚焦光為平行光,消除透鏡產(chǎn)生的像差,使圖像輪廓更清晰,同時(shí)如果在光路中加濾光片、偏振片時(shí)也不會(huì)產(chǎn)生象差。
雙光闌系統(tǒng)極大減小機(jī)械誤差與衍射干擾,使得數(shù)據(jù)更精確,光譜更可靠。
可選DIC(微分相襯)技術(shù)(Differential Interference Contrast),通過偏振光的干涉即可以不同顏色、不同對(duì)比度區(qū)分樣品的不同區(qū)域。
塞默飛紅外顯微鏡IR-Microscope技術(shù)參數(shù):
1.三筒目鏡,既可攝像又可用眼觀察;
2.四位物鏡,多可同時(shí)放置四個(gè)不同的物鏡;
3.支持雙檢測(cè)器, 既可作中紅外、也可作近紅外;
4.標(biāo)配可以透射、反射及ATR 三種采樣方式收集光譜;
5.面掃描(Mapping)小步長1微米,具有*的可見光分辨能力。
塞默飛紅外顯微鏡IR-Microscope主要特點(diǎn):
1.*在紅外顯微鏡中采用無限校正光學(xué)技術(shù),改變過去聚焦光為平行光;
2.利用二相色性的"True View"技術(shù),可在掃描過程中同時(shí)觀測(cè)被測(cè)區(qū)域;
3.復(fù)合雙光闌(Reflex Aperture), 大大減小雜散光;
4.同軸設(shè)計(jì):可見光光路與紅外光同軸;
5.可變或固定厚度補(bǔ)償物鏡。
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