AFG31251任意波函數(shù)發(fā)生器

泰克 AFG31000 系列是全新智能型 AFG，它內(nèi)置任意波形發(fā)生和實時波形監(jiān)測功能，并擁有市場上非常大的觸摸屏。全新 AFG31000 提供了高級波形生成和編程功能，支持波形監(jiān)測，擁有流行的觸摸屏界面，讓每個科研人員和工程師的測試變得更簡單，讓工作變得更輕松。  

主要性能指標(biāo)

單或雙通道型號

輸出幅度范圍 1mVP-P ~ 10VP-P 至 50? 負(fù)載

基本 (AFG) 模式:

25 MHz, 50MHz, 100MHz, 150MHz, 或 250MHz 正弦波形

250 MSa/s, 1GSa/s 或 2GSa/s 采樣率

14 位垂直分辨率

內(nèi)置波形包括正弦、方波、鋸齒波、脈沖、噪聲和其他常用波形

掃描、突發(fā)和調(diào)制模式 (AM, FM, PM, FSK 和 PWM)

高級 (序列) 模式:

連續(xù)模式 (選配序列模式、已觸發(fā)模式和選通模式)

每條通道上 16Mpts 任意波形內(nèi)存 (128Mpts 選配)

序列模式下最多 256 步，支持循環(huán)、跳轉(zhuǎn)和等待事件

可變采樣時鐘 1µSa/s ~ 2GSa/s

主要功能

憑借InstaView™ 技術(shù)，工程師可以實時查看被測器件 (DUT) 上的實際波形，而不需使用示波器和探頭，降低了因阻抗不匹配引起的不確定度

波形序列選項可以對復(fù)雜的長波形編程，支持最多 256 步

9 英寸容性觸摸屏的操作與智能手機(jī)類似，為常用設(shè)置提供了快捷方式

內(nèi)置 ArbBuilder 可以在儀器上創(chuàng)建和編輯任意波形，而不需要連接電腦

可以防止輸出發(fā)生過壓和過流，最大限度地降低儀器損壞的潛在風(fēng)險

兼容 TekBench™ 軟件，在實驗室中幫助學(xué)生設(shè)置、控制和分析測試結(jié)果

應(yīng)用

高級研究

時鐘和系統(tǒng)同步

復(fù)現(xiàn)真實世界信號

元器件和電路表征和驗證

嵌入式電路設(shè)計和測試

通用信號生成

基本模式和高級模式

AFG31000 系列是第一個擁有全功能基本模式(AFG)和高級(序列)模式的任意波函數(shù)發(fā)生器。

AFG31251任意波函數(shù)發(fā)生器

在基本模式下，AFG31000 生成傳統(tǒng)函數(shù)和任意波形。觸摸屏和前面板控制功能可以簡便地進(jìn)行設(shè)置。

基本模式可以改變頻率，而不用擔(dān)心波形長度和采樣率。這種功能既適合表征濾波器/放大器頻響的模擬設(shè)計，也適合時鐘速率經(jīng)常變化的數(shù)字設(shè)計。

可以一目了然地查看關(guān)鍵設(shè)置，并使用觸控、數(shù)碼鍵盤或旋轉(zhuǎn)控件簡便地進(jìn)行調(diào)節(jié)。

高級模式是 AFG31000 中提供的新模式，可以生成多個復(fù)雜定時的波形。在這種模式下，您可以編寫一個由 1~256 個波形組成的列表(或序列)，總波形長度可達(dá) 16Mpts/ch (128Mpts/ch 選配)，并定義這些波形的輸出序列。支持重復(fù)、轉(zhuǎn)到、等待、跳轉(zhuǎn)和已觸發(fā)事件，大容量內(nèi)存可以存儲許多波形或長波形。

這種功能特別適合需要順序執(zhí)行多個測試用例的應(yīng)用。您不用逐個加載測試用例，而是可以把所有測試用例放到一個序列中，一次性加載這些測試用例，然后從一個測試用例無縫切換到另一個測試用例，大大提高測試效率。

InstaView™ 技術(shù)可實時監(jiān)測 DUT 上的實際波形

大的觸摸屏，智能用戶界面

9 英寸大的容性觸摸屏，在一個屏幕上顯示所有相關(guān)設(shè)置和參數(shù)。與智能設(shè)備類似，您可以觸擊或滑動，簡便地選擇、瀏覽、定位和改變設(shè)置和參數(shù)?？梢粤⒓催M(jìn)入常用功能。提供了用戶熟悉的按鈕和旋轉(zhuǎn)旋鈕，可以以更加傳統(tǒng)的方式查看信息。

內(nèi)置 ArbBuilder 工具讓任意波形創(chuàng)建和編輯工作變得更輕松

簡化多臺同步

可以升級，保護(hù)您的投資

AFG31000 在帶寬、內(nèi)存擴(kuò)容和序列模式支持方面提供了升級選項。這些選項既可以在出廠時安裝，也可以在購買后隨時安裝。這種升級能力有助于降低產(chǎn)品擁有成本。在您的測試要求變化時，您可以購買和安裝升級軟件許可，增加性能更高的功能。升級消除了用戶擔(dān)心的在儀器使用過程中的投資回報問題。