目錄:上海勵典科技有限公司>>人工晶狀體檢驗設備>>人工晶狀體低測力測厚儀>> ET3-IOL人工晶狀體中心厚度測量儀（低測力）
| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 應用領域 | 綜合 |
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人工晶狀體中心厚度測量儀（低測力）產(chǎn)品特點：
探針自動上下，可由按鈕控制或腳踏開關(guān)（選配）控制
人工晶狀體中心厚度測量儀（低測力）可選配：
RS232電腦通訊接口
數(shù)據(jù)采集軟件
校準套件（測厚+測力）
腳踏開關(guān)
技術(shù)參數(shù)：
測量范圍：0-1999微米
測量分辨率和重復性：1微米
測量精度：±2微米（±1微米加上±1微米四舍五入）
探針測力：可調(diào)整，出廠設置為約0.5gm
標準測座：直徑12.7mm，平面
顯示：3.5位0.75吋液晶屏，每秒刷新3次
調(diào)零：旋鈕調(diào)整約±15微米
測頭：2.3mm直徑頂部平整拋光
電源：220VAC，50Hz，5VA
輸出：25針RS232電腦端口（選配）
環(huán)境：15~30℃，大90%相對濕度
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