KEPHVT-70/50絕緣測(cè)試儀    KEPHVT-70/50絕緣測(cè)試儀   KEPHVT-70/50絕緣測(cè)試儀

KEPHVT-70/50絕緣測(cè)試儀    KEPHVT-70/50絕緣測(cè)試儀   KEPHVT-70/50絕緣測(cè)試儀

KEP公司研制的VLF-60型電纜絕緣測(cè)試儀是一種超低頻高電位測(cè)試儀，可保證中壓電纜的有效測(cè)試和故障定位。甚低頻(Vuency, VLF)測(cè)試是將頻率在0.01 ~ 0.1 Hz范圍內(nèi)的頻率應(yīng)用于被測(cè)電纜，對(duì)絕緣質(zhì)量合適的電纜無(wú)破壞，但足以檢測(cè)電纜故障。與直流電纜測(cè)試相比，VLF測(cè)試不會(huì)對(duì)被測(cè)電纜產(chǎn)生如此不利的影響，因?yàn)橹绷麟娎|測(cè)試會(huì)對(duì)絕緣性能造成損害。甚低頻(Vuency, VLF)測(cè)試是將頻率在0.01 ~ 0.1 Hz范圍內(nèi)的頻率應(yīng)用于被測(cè)電纜，對(duì)絕緣質(zhì)量合適的電纜無(wú)破壞，但足以檢測(cè)電纜故障。與直流電纜測(cè)試相比，VLF測(cè)試不會(huì)對(duì)被測(cè)電纜產(chǎn)生如此不利的影響，因?yàn)橹绷麟娎|測(cè)試會(huì)對(duì)絕緣性。甚低頻(Vuency, VLF)測(cè)試是將頻率在0.01 ~ 0.1 Hz范圍內(nèi)的頻率應(yīng)用于被測(cè)電纜，對(duì)絕緣質(zhì)量合適的電纜無(wú)破壞，但足以檢測(cè)電纜故障。與直流電纜測(cè)試相比，VLF測(cè)試不會(huì)對(duì)被測(cè)電纜產(chǎn)生如此不利的影響，因?yàn)橹绷麟娎|測(cè)試會(huì)對(duì)絕緣性。甚低頻(Vuency, VLF)測(cè)試是將頻率在0.01 ~ 0.1 Hz范圍內(nèi)的頻率應(yīng)用于被測(cè)電纜，對(duì)絕緣質(zhì)量合適的電纜無(wú)破壞，但足以檢測(cè)電纜故障。與直流電纜測(cè)試相比，VLF測(cè)試不會(huì)對(duì)被測(cè)電纜產(chǎn)生如此不利的影響，因?yàn)橹绷麟娎|測(cè)試會(huì)對(duì)絕緣性。甚低頻(Vuency, VLF)測(cè)試是將頻率在0.01 ~ 0.1 Hz范圍內(nèi)的頻率應(yīng)用于被測(cè)電纜，對(duì)絕緣質(zhì)量合適的電纜無(wú)破壞，但足以檢測(cè)電纜故障。與直流電纜測(cè)試相比，VLF測(cè)試不會(huì)對(duì)被測(cè)電纜產(chǎn)生如此不利的影響，因?yàn)橹绷麟娎|測(cè)試會(huì)對(duì)絕緣性