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詳細(xì)介紹
IT-470F-H堀場(chǎng)HORIBA紅外線輻射溫度計(jì)特點(diǎn)：
- 高精度：±0.1°C ※和再現(xiàn)性（2σ）：0.1°C ※實(shí)現(xiàn)
- 在150 mm的測(cè)量距離內(nèi)實(shí)現(xiàn)mm8 mm的窄視場(chǎng)
- 兩個(gè)輸出：多功能電流輸出和光學(xué)數(shù)字輸出，不易受電磁感應(yīng)噪聲的影響
※在一定條件下使用時(shí)是能力值。
使用
- 基座溫度測(cè)量例在真空室中時(shí)，
可以是從真空室外部溫度測(cè)量通過所述基座的一個(gè)窗口。
- FPD制造過程中液晶基板的表面溫度測(cè)量示例
非接觸式測(cè)量不會(huì)損壞待測(cè)物體的表面。
- 拋光時(shí)的溫度控制示例
非接觸式測(cè)量不會(huì)損壞待測(cè)物體的表面。
堀場(chǎng)HORIBA紅外線輻射溫度計(jì)技術(shù)參數(shù)：
| 測(cè)量波長(zhǎng) | 8至14微米 |
|---|---|
| 測(cè)量溫度范圍 | -50至200°C |
| 輸出分辨率 | 光學(xué)數(shù)字輸出：0.1°C，電流輸出：0.025％FS或更低 |
| 測(cè)量精度* | ±4.0°C（目標(biāo)溫度-50°C） |
| 再現(xiàn)性 | 0.7°C（目標(biāo)溫度-50°C） |
| 響應(yīng)速度 | 光學(xué)數(shù)字輸出：小于1.4秒（移動(dòng)平均1秒，95％響應(yīng)） |
| 數(shù)據(jù)采樣期 | 0.1秒 |
| 數(shù)據(jù)傳輸率 | 光學(xué)數(shù)字輸出：0.2秒，電流輸出：0.1秒 |
| 測(cè)量視野 | 8 8毫米或更少/距離150毫米（入射光量90％） |
| 發(fā)射率設(shè)定 | 0.001至0.999可選（出廠時(shí)設(shè)定） |
| 工作溫度和濕度范圍 | 溫度0-55°C，相對(duì)濕度35-85％RH（無冷凝） |
| 電源 | DC24V±5％ |
| 功能 | 光學(xué)數(shù)字輸出（JIS F05型），電流輸出4至20 mA（負(fù)載電阻100Ω，非絕緣）法蘭調(diào)整 |
| 物理尺寸 | 55 x 44 x 96 mm電源，帶電流電纜（標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度2 m） |
| 塊 | 300克以內(nèi) |
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