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詳細摘要： 電纜超低頻介質(zhì)損耗測試儀采用最新電力電子元器件和最新 ARM7 單片機技術(shù)，進一步降低了設(shè)備的體積和重量，傻瓜式操作，性能更穩(wěn)定，克服了第一代機械式升壓器使用壽...

詳細摘要： 供應(yīng)優(yōu)質(zhì)介質(zhì)損耗測試儀反接可使用一根線，測量電壓緩升、緩降，全自動測量，結(jié)果直讀，無須換算。介質(zhì)損耗測試儀*抗干擾處理有效解決現(xiàn)場干擾，

詳細摘要： 抗干擾高壓介質(zhì)損耗測試儀淘汰了QSI高壓電橋，具有操作簡單、中文顯示、打印，使用方便、無需換算、自帶高壓，抗干擾能力強等優(yōu)點。

詳細摘要： 智能化介質(zhì)損耗測試設(shè)備測量過程由微處理器控制，只要選擇好合適的測量方式，數(shù)據(jù)的測量就可在微處理器控制下自動完成。

詳細摘要： 介質(zhì)損耗測試|變頻式介損測試儀配備有日歷芯片和大容量存儲器，能將檢測結(jié)果按時間順序保存，隨時可以查看歷史記錄，并可以打印輸出；

詳細摘要： 介質(zhì)損耗測量儀/變頻異頻測試采用自動跟蹤干擾抵償電路，將矢量運算法與移相法結(jié)合，有效地消除強電場干擾對測量的影響，

詳細摘要： 介損儀/抗干擾介質(zhì)損耗測量儀外殼接地屏蔽，另外使用了光導(dǎo)數(shù)據(jù)，浮空地、大面積地、單點地、數(shù)字濾波等抗干擾技術(shù)，加之計算機對數(shù)百個電網(wǎng)周期的數(shù)據(jù)進行處理，故測量結(jié)...

詳細摘要： 測試范圍寬介質(zhì)損耗測試儀采用了變頻技術(shù)來消除現(xiàn)場50Hz工頻干擾，即使在強電磁干擾的環(huán)境下也能測得可靠的數(shù)據(jù)。

詳細摘要： 變頻 超高壓介質(zhì)損耗測試儀可實現(xiàn)CVT的自激法測試，無需外置附件，一次測量C1,C2的電容和介損全部測出。

詳細摘要： 生產(chǎn)JSY-II介質(zhì)損耗測試儀由數(shù)字信號處理器運用數(shù)字化實時采集方法，通過矢量運算得出試品的電容值和介質(zhì)損耗正切值。儀器內(nèi)部已經(jīng)采用了抗干擾措施，保障在外電場干...

詳細摘要： 介損儀、全自動介質(zhì)損耗測試儀輸入電壓波動、高壓電流、輸出短路、電源故障、過壓、過流、溫度等多重保護措施，保證了儀器安全、可靠。

詳細摘要： JSY-B介質(zhì)損耗測量儀分別使用內(nèi)高壓、外高壓、內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)、外標(biāo)準(zhǔn)、正接法、反接法、自激法等多種方式測試；

詳細摘要： 蘇霍批發(fā)高頻介質(zhì)損耗測試儀操作簡便，測量過程由微處理器控制，只要選擇好合適的測量方式，數(shù)據(jù)的測量就可在微處理器控制下自動完成。

詳細摘要： 介質(zhì)損耗測試具有操作簡單、中文顯示、打印、使用方便、無需換算、自帶高壓、抗干擾能力強、測試時間（在國內(nèi)同類產(chǎn)品中速度較快）等特點。

詳細摘要： 抗干擾介損測試儀-介質(zhì)損耗測試與真實工頻測試有一定的距離，尤其對少數(shù)被試品，測出數(shù)據(jù)就有明顯誤差，經(jīng)過綜合比較，現(xiàn)研制一種新型介質(zhì)損耗測試儀，

詳細摘要： 主變介質(zhì)損耗測量儀測量結(jié)果由大屏幕液晶顯示，自帶微型打印機可打印輸出。還具有絕緣電阻測量功能。

詳細摘要： 全自動抗干擾介質(zhì)損耗測試儀測量大容量試品時會出現(xiàn)電壓抬高的“容升“效應(yīng)，儀器能自動跟蹤輸出電壓，保持試驗電壓恒定。

詳細摘要： 多功能-高壓介質(zhì)損耗測試儀自動識別外接高壓試驗電源頻率40Hz～70Hz，支持工頻電源、變頻電源和串聯(lián)諧振電源做大容量高電壓介損試驗。

詳細摘要： 介質(zhì)損耗測試儀介質(zhì)測量精度0.5配備了的全觸摸液晶顯示屏，超大全觸摸操作界面，每過程都非常清晰明了，操作人員不需要額外的專業(yè)培訓(xùn)就能使用。

詳細摘要： SHJSY-45A高頻介質(zhì)損耗測試儀配備了的全觸摸液晶顯示屏，超大全觸摸操作界面，每過程都非常清晰明了，操作人員不需要額外的專業(yè)培訓(xùn)就能使用。