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當(dāng)今的模擬和功率半導(dǎo)體技術(shù)（包括 GaN 和 SiC）要求進(jìn)行參數(shù)測(cè)試，以便限度提高測(cè)量性能、支持廣泛的產(chǎn)品組合以及限度降低測(cè)試成本。40 多年來，吉時(shí)利已經(jīng)在...
吉時(shí)利自動(dòng)化檢定套件 (ACS) 是靈活的交互式軟件測(cè)試環(huán)境，可用于器件檢定、參數(shù)化測(cè)試、可靠性測(cè)試，甚至簡(jiǎn)單的功能測(cè)試。ACS 支持各種吉時(shí)利儀器和系統(tǒng)、硬件...
開發(fā)和使用MOSFET、IGBT、二極管和其他大功率器件，需要全面的器件級(jí)檢定，如擊穿電壓、通態(tài)電流和電容測(cè)量。 Keithley參數(shù)波形記錄儀（代替原晶體管圖...
半導(dǎo)體器件的高速和低電流要求高質(zhì)量、高性能的 I-V 和 C-V 信號(hào)開關(guān)。 我們?yōu)榘雽?dǎo)體研發(fā)和生產(chǎn)測(cè)試應(yīng)用提供開關(guān)解決方案，其中主機(jī)可以支持多達(dá) 2,880 ...
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