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更新時(shí)間：2024-08-06 00:37:01瀏覽次數(shù)：821次
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| 產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
|---|
為較具挑戰(zhàn)的系統(tǒng)設(shè)計(jì)提供信號(hào)高保真度
當(dāng)前高速電路使得信號(hào)路徑檢定和BER分析的挑戰(zhàn)性進(jìn)一步提高。由于較高的TDR帶寬、較快速的S參數(shù)測(cè)量功能及全面支持光學(xué)標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試，DSA8200數(shù)字串行分析儀提供了完整的高速物理層測(cè)試平臺(tái)。
DSA8200采樣示波器概述
功能 | 優(yōu)點(diǎn) |
| 最多4個(gè)真實(shí)差分通道 | 利用真實(shí)的差分TDR激勵(lì)信號(hào)準(zhǔn)確地檢測(cè)非線(xiàn)性設(shè)備，如放大器。 |
| 高帶寬（50 GHz）時(shí)域反射儀 | 以12 ps 的入射級(jí)將阻抗不連續(xù)性分解至 1mm。 |
| 光學(xué)模塊噪聲低，光學(xué)靈敏度高，擁有消光比校準(zhǔn)功能及寬波長(zhǎng)。 | 通過(guò)一個(gè)光學(xué)測(cè)試解決方案，滿(mǎn)足8.5Gb/s - 40Gb/s所有主要標(biāo)準(zhǔn)。 |
| IConnect® 信號(hào)完整性 | 利用集成的TDR和S參數(shù)測(cè)量減少由測(cè)試治具信號(hào)降級(jí)引起的測(cè)量錯(cuò)誤。 |
| 串行數(shù)據(jù)網(wǎng)絡(luò)分析 (SDNA) | 通過(guò)一個(gè)儀器進(jìn)行時(shí)域和頻域分析來(lái)降低測(cè)試成本。準(zhǔn)確地分析信號(hào)通路以預(yù)測(cè)信號(hào)串?dāng)_和抖動(dòng)，確保可靠的系統(tǒng)運(yùn)行。 |
| 串行數(shù)據(jù)鏈路分析 (SDLA) | 通過(guò)抖動(dòng)、噪聲和BER分析確定眼閉的準(zhǔn)確原因。通過(guò)快速評(píng)估各種FE/DFE均衡設(shè)置增加接收器的眼睜時(shí)間。 |
| 遠(yuǎn)程采樣頭 | 通過(guò)將TDR頭接近被測(cè)試設(shè)備來(lái)優(yōu)化信號(hào)保真度和減小探頭、電纜及測(cè)試治具的影響。 |
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