2022年12月20日蔡司中國新一代場發(fā)射掃描電鏡Sigma系列新品線上發(fā)布會成功舉辦。為滿足新能源，新材料，電子半導(dǎo)體和集成電路，深海，太空，生命科學(xué)，考古等熱門領(lǐng)域的高分辨率成像和全面分析的需求，蔡司全新推出的場發(fā)射掃描電鏡Sigma 360和Sigma 560，傳承GEMINI電子鏡筒的優(yōu)良性能，將會是材料研究、生命科學(xué)和工業(yè)檢測等領(lǐng)域的 “全能多面手”。蔡司致力于和用戶一起攜手共進，推動科學(xué)發(fā)展與行業(yè)進步。
▲ 蔡司全新場發(fā)射掃描電鏡Sigma 360與Sigma 560
蔡司中國顯微鏡事業(yè)部材料科研負責人黃銘剛先生出席線上發(fā)布會并為全新Sigma系列揭幕。他提到：“作為蔡司集團歷史最悠久的部門之一，蔡司顯微鏡秉承創(chuàng)新的基因，持續(xù)利用前沿技術(shù)，為不同行業(yè)的客戶提供跨尺度、多模態(tài)的顯微成像分析解決方案。我們堅信全新的Sigma系列必將助力客戶持續(xù)成功。”
▲ 黃銘剛先生致辭并為新品揭幕
蔡司顯微鏡材料科學(xué)全球市場總監(jiān)Benjamin Tordoff博士也受邀在發(fā)布會中致辭并介紹了全新Sigma系列的關(guān)鍵技術(shù)特點，尤其是低電壓性能方面得到了極大提升。
▲ Benjamin Tordoff博士介紹產(chǎn)品特點
隨后，蔡司中國顯微鏡應(yīng)用經(jīng)理秦艷女士詳細介紹了全新Sigma系列的前沿技術(shù)。高分辨、全分析、多擴展、強智能、廣應(yīng)用，新一代場發(fā)射掃描電鏡Sigma系列與您一同開啟納米分析新紀元！
全新Sigma系列亮點：
高分辨
GEMINI電子光學(xué)技術(shù)再度升級，分辨率進一步提升，低電壓效果更加優(yōu)秀，讓您的高分辨成像工作更加得心應(yīng)手。
低電壓高分辨成像結(jié)果（Al2O3顆粒，1kV）
低電壓高分辨成像結(jié)果（氧化鋯&氧化鐵復(fù)合材料，1kV）
低電壓高分辨成像結(jié)果（納米金顆粒，1kV）
全分析
可配置多種分析手段，獲取樣品全面信息。
? 全新NanoVP Lite保證低真空EDS分析精度
? 電子通道襯度成像（ECCI）分析樣品內(nèi)部缺陷
? 無漏磁物鏡搭配EBSD，實現(xiàn)高精度晶體取向分析
? Raman-SEM聯(lián)用系統(tǒng)，輕松實現(xiàn)高精度原位拉曼分析
不銹鋼ECCI成像
Si/Al界面的EDS線掃描
鋁合金斷口EBSD
鐵礦石Raman相鑒定
多擴展
強擴展兼容性，為您拓展電鏡應(yīng)用新維度。它可以是您的全自動原位實驗平臺，可以是您的冷凍傳輸分析系統(tǒng)，也可以是您的高精度電子束直寫(EBL)平臺，還可以是您的原位電化學(xué)分析工作站，等等。
鋼鐵樣品800°C
原位自動EBSD
EBL制備GaN
HEMT器件
含油巖心
冷凍成像 1kV
強智能
智能軟件不能少，帶您解鎖掃描電鏡新玩法。SmartSEM Touch定制軟件為您帶來觸屏式、流程化的拍攝與自動拼圖體驗，操作高效又安全；ZEN軟件讓圖像處理等量化分析工作更加自動、智能；Connect模塊可輕松實現(xiàn)光電關(guān)聯(lián)，一站式解決您的定位難題。
簡潔的SmartSEM Touch操作界面
顆粒分析
高級測量滿足多種測量需求
層厚測量
廣應(yīng)用
廣泛的應(yīng)用適用性，無論是材料科學(xué)研究、工業(yè)檢測，還是生命科學(xué)領(lǐng)域；無論是金屬、聚合物，還是陶瓷、礦石；無論是不導(dǎo)電樣品、電子束敏感樣品，還是磁性樣品；無論是半導(dǎo)體材料、鋰電池材料，還是生物樣品，它行行全覆蓋，樣樣都拿手。
磁性材料
含Ni磁性樣品，1kV成像
強磁性釹鐵硼磁鐵
未消磁處理，10kV成像
納米材料
BN 納米片，1kV成像
SiO2小球包覆PS核殼結(jié)構(gòu)
1kV背散射成像
半導(dǎo)體材料
InP襯底材料的量子阱結(jié)構(gòu)
1kV成像
光柵截面傾斜觀察
1kV成像
樣品來自北京至格科技
生命科學(xué)
苔蘚蟲的高倍背散射成像
樹突狀細胞的高分辨率超微三維結(jié)構(gòu)
如果想要了解“樣樣都拿手”的蔡司全新場發(fā)射掃描電鏡Sigma 系列的更多內(nèi)容，您可以關(guān)注蔡司顯微鏡微信公眾號了解詳情，更可以在公眾號中獲取豐富的顯微前沿資訊，了解蔡司最新產(chǎn)品及技術(shù)。
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