TH90101 多通道高壓掃描器
電弧偵測(cè)功能（ARC）

耐壓不良是指在耐壓測(cè)試中有電氣閃絡(luò)或絕緣破壞發(fā)生?，F(xiàn)在耐壓絕緣測(cè)試已經(jīng)成為各類(lèi)電器設(shè)備和絕緣材料安全測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)配備。但是,僅僅考慮到絕緣失效并不能完*產(chǎn)品安全問(wèn)題,另一類(lèi)現(xiàn)象,電弧放電ARC在耐壓測(cè)試中越來(lái)越得到重視,放電與絕緣能力之間具有*的相關(guān)性，所以ARC偵測(cè)是控制產(chǎn)品質(zhì)量的關(guān)鍵。

以下兩種情況會(huì)出現(xiàn)電弧放電現(xiàn)象

TH90101 多通道高壓掃描器

 電弧偵測(cè)功能（ARC）

耐壓不良是指在耐壓測(cè)試中有電氣閃絡(luò)或絕緣破壞發(fā)生?，F(xiàn)在耐壓絕緣測(cè)試已經(jīng)成為各類(lèi)電器設(shè)備和絕緣材料安全測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)配備。但是,僅僅考慮到絕緣失效并不能完*產(chǎn)品安全問(wèn)題,另一類(lèi)現(xiàn)象,電弧放電ARC在耐壓測(cè)試中越來(lái)越得到重視,放電與絕緣能力之間具有*的相關(guān)性，所以ARC偵測(cè)是控制產(chǎn)品質(zhì)量的關(guān)鍵。

以下兩種情況會(huì)出現(xiàn)電弧放電現(xiàn)象：

a)  當(dāng)材料承受較高電壓，電場(chǎng)強(qiáng)度大于氣體的電離能時(shí)，會(huì)讓材料表面氣體發(fā)生瞬時(shí)電離現(xiàn)象，此時(shí)會(huì)在材料表面形成打火并對(duì)材料形成溫升現(xiàn)象。長(zhǎng)期的打火和溫升可能會(huì)造成材料的質(zhì)變，進(jìn)而導(dǎo)致絕緣劣化，使得電壓耐受程度下降，終發(fā)生絕緣失效。

b)  被測(cè)件檢測(cè)點(diǎn)間距過(guò)小時(shí),在被測(cè)件兩端施加較高電壓，檢測(cè)點(diǎn)兩端空間里的空氣會(huì)被電離，形成打火現(xiàn)象，也就是拉弧現(xiàn)象。拉弧現(xiàn)象產(chǎn)生高頻的瞬時(shí)放電，在測(cè)試過(guò)程中產(chǎn)生了一個(gè)高頻電流信號(hào)如圖D，電弧偵測(cè)（ARC）功能是用高頻電量量測(cè)的方式偵測(cè)，判斷出材料絕緣性能是否有不良。

 

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 電弧偵測(cè)功能（ARC）

耐壓不良是指在耐壓測(cè)試中有電氣閃絡(luò)或絕緣破壞發(fā)生。現(xiàn)在耐壓絕緣測(cè)試已經(jīng)成為各類(lèi)電器設(shè)備和絕緣材料安全測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)配備。但是,僅僅考慮到絕緣失效并不能完*產(chǎn)品安全問(wèn)題,另一類(lèi)現(xiàn)象,電弧放電ARC在耐壓測(cè)試中越來(lái)越得到重視,放電與絕緣能力之間具有*的相關(guān)性，所以ARC偵測(cè)是控制產(chǎn)品質(zhì)量的關(guān)鍵。

以下兩種情況會(huì)出現(xiàn)電弧放電現(xiàn)象：

a)  當(dāng)材料承受較高電壓，電場(chǎng)強(qiáng)度大于氣體的電離能時(shí)，會(huì)讓材料表面氣體發(fā)生瞬時(shí)電離現(xiàn)象，此時(shí)會(huì)在材料表面形成打火并對(duì)材料形成溫升現(xiàn)象。長(zhǎng)期的打火和溫升可能會(huì)造成材料的質(zhì)變，進(jìn)而導(dǎo)致絕緣劣化，使得電壓耐受程度下降，終發(fā)生絕緣失效。

b)  被測(cè)件檢測(cè)點(diǎn)間距過(guò)小時(shí),在被測(cè)件兩端施加較高電壓，檢測(cè)點(diǎn)兩端空間里的空氣會(huì)被電離，形成打火現(xiàn)象，也就是拉弧現(xiàn)象。拉弧現(xiàn)象產(chǎn)生高頻的瞬時(shí)放電，在測(cè)試過(guò)程中產(chǎn)生了一個(gè)高頻電流信號(hào)如圖D，電弧偵測(cè)（ARC）功能是用高頻電量量測(cè)的方式偵測(cè)，判斷出材料絕緣性能是否有不良。

 

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