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行業(yè)產(chǎn)品
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上海波銘科學(xué)儀器有限公司
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首頁>>上海波銘科學(xué)儀器有限公司>>產(chǎn)品展示>>光譜系統(tǒng)>>半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測儀
產(chǎn)品分類品牌分類
顯微缺陷膜厚
半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測儀
高光譜測試系統(tǒng)
瞬態(tài)吸收系統(tǒng)
太陽能電池量子效率
太陽光模擬器IV系統(tǒng)
顯微光電流成像系統(tǒng)
探測器光響應(yīng)度系統(tǒng)
光譜變溫附件探針臺
拉曼SERS增強(qiáng)試劑
顯微熒光系統(tǒng)
組合熒光系統(tǒng)
鏡頭透過率測試系統(tǒng)
漫反射率測試系統(tǒng)
反射、吸收率系統(tǒng)
成像亮度計(jì)
標(biāo)準(zhǔn)燈參考輻射定標(biāo)
電致發(fā)光系統(tǒng)
常規(guī)發(fā)射光譜系統(tǒng)
共聚焦拉曼光譜儀
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