目錄:上海波銘科學(xué)儀器有限公司>>光譜系統(tǒng)>>顯微缺陷膜厚>> 彩色濾光片、光刻膠測量裝置 LCF SERIES
以透過光譜測量、色測量為代表，通過濃度測量、膜厚測量、反射光譜測量等，可對應(yīng)彩色濾光片制造工程中的所有檢查的裝置
可用于彩色濾光片的光學(xué)特性或玻璃基板上膜的薄膜解析等各類評價
通過自動對焦功能和自動繪素位置相結(jié)合，測量精度高，登陸recipe實現(xiàn)完wan全自動檢查
| 彩色濾光片評價 | 色測量（透過光譜測量） 色度（XYZ，xy，Lab，L*a*b*，u’v’，u*v*） 色差，白平衡 |
|---|---|
| 反射率測量 * | |
| 濃度（OD）測量 * | |
| 畫素幅測量 * | |
| AF（自動對焦），結(jié)合自動繪素 * | |
| 膜厚評價 | 膜厚測量 |
| 膜物性解析（n:折射率，k：消減系數(shù)） |
R, G, B, ITO, PI, PR, OC, BM
| 型號 | LCF series |
|---|---|
| 樣品尺寸 | 50mm×50mm ～* |
| 檢出器 | 分光光度計 ( MCPD檢出器 )，PMT （option） |
| 圖像處理 | CCD相機及monitor 自動對焦結(jié)合自動繪畫素機構(gòu) |
| Stage及測量部支架 | X-Y-Zstage自動及手動（電動方式） |
* 也可用于大型玻璃基板（3000mm×3000mm以上）
彩色濾光片R、G、B測量
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