目錄:儒亞科技（北京）有限公司>>粒度分析>>納米粒度儀>> DC24000UHRCPS高精度納米粒度分析儀
| 參考價(jià) | 面議 |
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更新時(shí)間：2024-11-01 13:05:00瀏覽次數(shù)：3091評(píng)價(jià)
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| 測(cè)量范圍 | 0.005-75微米 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 分散方式 | 濕法分散 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
| 儀器種類 | 差示離心沉降法 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,電子/電池,包裝/造紙/印刷,制藥/生物制藥 |
| 重現(xiàn)性 | 0.5% |
這種原理有以下幾點(diǎn)優(yōu)勢(shì)：
CPS高精度納米粒度儀的技術(shù)優(yōu)勢(shì)：
CPS納米粒度分析儀分辨率很高，它有效地結(jié)合了高速離心沉降(ZG24000轉(zhuǎn)/分)和激光法的優(yōu)點(diǎn)，使得整個(gè)儀器能夠達(dá)到*的分辨率，優(yōu)良的靈敏度和重復(fù)性.
CPS高精度納米粒度分析儀同激光散射和顆粒計(jì)數(shù)法比較，該方法有非常高的分辨率，能夠輕松鑒別雜質(zhì)顆粒，污染顆粒或者外來(lái)顆粒。半峰寬為峰值粒度 1%，也就是說(shuō)對(duì)于峰值差異只有1%的相鄰粒度兩個(gè)粒度峰，該儀器都可以有效地檢測(cè)并區(qū)分開來(lái)。儀器的分辨率如此高，得到的顆粒分布幾乎不受儀器的影響，測(cè)量終得到的是真實(shí)、可靠的顆粒分布。
CPS高精度納米粒度分析儀和傳統(tǒng)沉降法比較，更快的分析時(shí)間。速度的優(yōu)勢(shì)是基于更快的圓盤轉(zhuǎn)速以及更快的儀器檢測(cè)器響應(yīng)。采用多階速度，分析速度可以小于通常情況下的1/20。
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