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MorphoVIEW 系列圖像粒度粒形分析儀用于測量顆粒粒度與粒形參數(shù)。顆粒粒度粒形是反應(yīng)顆粒特性的基本指標(biāo),它決定了顆粒的物理、化學(xué)、力學(xué)等特性。為了控制產(chǎn)品...
Zetatronix 系列納米粒度及Zeta電位分析儀用于測量顆粒粒度與Zeta電位。納米顆粒由于粒徑十分細(xì)小,其表面的晶體結(jié)構(gòu)發(fā)生變化,從而在電學(xué)、光學(xué)和化學(xué)...
MorphoVIEWS380靜態(tài)圖像粒度粒形分析儀基于顯微鏡結(jié)構(gòu),通過自動樣品臺帶動顆粒在平面內(nèi)移動,使用高分辨率相機逐張進(jìn)行拍照,在圖像采集過程中顆粒保持靜止...
MorphoVIEW系列動態(tài)圖像粒度粒形分析儀,在運動過程中捕捉顆粒的圖像,具有采樣量大,無取向誤差等特點。利用高分辨率工業(yè)相機,顆粒圖像更清晰,測量結(jié)果更準(zhǔn)確...
9x9系列納米粒度及Zeta電位分析儀以高速數(shù)字相關(guān)器為核心器件,使用動態(tài)光散射技術(shù)測量顆粒粒度,使用相位分析光散射技術(shù)測量Zeta電位,使用靜態(tài)光散射技術(shù)測量...
9x9系列納米粒度及Zeta電位分析儀以高速數(shù)字相關(guān)器為核心器件,使用動態(tài)光散射技術(shù)測量顆粒粒度,使用相位分析光散射技術(shù)測量Zeta電位,使用靜態(tài)光散射技術(shù)測量...
9x9系列納米粒度及Zeta電位分析儀以高速數(shù)字相關(guān)器為核心器件,使用動態(tài)光散射技術(shù)測量顆粒粒度,使用相位分析光散射技術(shù)測量Zeta電位,使用靜態(tài)光散射技術(shù)測量...
9x9系列納米粒度及Zeta電位分析儀以高速數(shù)字相關(guān)器為核心器件,使用動態(tài)光散射技術(shù)測量顆粒粒度,使用相位分析光散射技術(shù)測量Zeta電位,使用靜態(tài)光散射技術(shù)測量...
9x9系列納米粒度及Zeta電位分析儀以高速數(shù)字相關(guān)器為核心器件,使用動態(tài)光散射技術(shù)測量顆粒粒度,使用相位分析光散射技術(shù)測量Zeta電位,使用靜態(tài)光散射技術(shù)測量...
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