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EDX-8800M MAX XRF Spectrometer立式X熒光光譜儀材料分析專家

EDX8800M MAX能量色散熒光光譜儀-材料分析專家

作為一款高性能的臺式高分辨率X射線熒光（EDXRF）元素分析儀，新款EDX8800M MAX配置了基于Windows基本參數(shù)算法的FP（Fundamental parameter）軟件，同時配備了高性能硬件，來滿足客戶對于復(fù)雜礦石樣品的元素分析需求。無論客戶的樣品是是固體，合金，粉末，液體或者漿液，EDX8800M MAX都可以輕松實現(xiàn)從鈉（Na）到鈾（U）元素的無損定性和定量分析。更快的分析速度，更精確的測試結(jié)果，更穩(wěn)定的儀器性能，使得EDX8800M MAX成為了客戶進行元素分析的最佳工具之一。ESI英飛思EDX8800M MAX光譜儀主要應(yīng)用于在第三方實驗室及各種需要進行高精度材料成分分析的場所。作為一款全新研發(fā)的光譜儀，EDX8800M MAX具有出色的靈活性，分析性能和穩(wěn)定性。

EDX8800M MAX專注于對各種材料的主量，微量和痕量元素或化合物進行定性和定量分析，其中包括：

•鐵礦• 銅礦• 鋁土礦•貴金屬材料•稀土礦•原料•磷酸鹽•煤炭•鉛鋅礦•錳礦•鎳礦•石灰石•粘土•石膏•玻璃•土壤•水泥•耐火材料及其他等

EDX8800M MAX操作簡單，分析性能出色，同時還可拓展到以下應(yīng)用

>塑膠及有機物：塑料材料PE，PVC，添加劑等元素分析

>合金成分分析，牌號鑒定，貴金屬測定，三元催化分析

>石油化工：燃料，潤滑油監(jiān)測，添加劑，磨損金屬等中的硫元素分析>環(huán)境：廢水，空氣污染，土壤和地面，排放控制等>涂層厚度和薄膜：分析多層涂層，鋼涂層，雜質(zhì)等>刑偵及公安：證據(jù)分析，材料匹配，爆炸物等>食品，化妝品和藥品：添加劑控制，原材料，有害金屬，包裝材料等

搭載自旋平臺EDX8800M MAX 結(jié)構(gòu)圖

產(chǎn)品特點

作為一款專業(yè)為材料成分分析而設(shè)計和生產(chǎn)的光譜儀，EDX-8800M MAX兼顧了耐用性，易于操作和高性價比。其顯著優(yōu)勢主要有：

•無需或者很少的樣品制備，全程無損分析，一到三分鐘即可出結(jié)果

•高功率光管和電制冷的FSDD硅漂移檢測器不僅具有出色的短期重復(fù)性和長期重現(xiàn)性，而且具有出色的元素峰分辨率

•能同時進行元素和氧化物成分分析

•多重儀器硬件保護系統(tǒng)，并可通過軟件進行全程實時監(jiān)控, 讓儀器工作更穩(wěn)定、更安全

•特別設(shè)計的光路和真空系統(tǒng)大大提高了輕元素(Na, Mg, Al, Si, P）的測試靈敏度和準確性，同時可選配氦氣充氣系統(tǒng)

•友好的用戶界面，可定制的分析報告，可一鍵打印測試報告，包括分析結(jié)果，樣品信息，光譜信息和樣品圖像

•八種光路準直系統(tǒng)，根據(jù)不同樣品大小自動切換，亦可測試樣品不同位置再求平均值，降低樣品不均勻性造成的誤差

•高清內(nèi)置攝像頭，清晰地顯示儀器所檢測的樣品部位

材料元素檢測專家EDX8800M MAX

>儀器參數(shù)

>儀器配置

功能強大而界面友好的測試軟件

界面清晰易用。選擇方法并輸入樣品識別信息后即可開始測量軟件內(nèi)核-軟件核心算法包括FP基本參數(shù)法，Sherman方程EC經(jīng)驗系數(shù)法，阿爾法α理論參數(shù)法，可以實現(xiàn)元素間增強吸收效應(yīng)的校正

EDX8800M MAX已在工廠預(yù)安裝了軟件并進行了數(shù)據(jù)標定，客戶運行軟件即可立刻開始測試。無需每天重復(fù)標定。強大的軟件功能還提供了

>一鍵初始化儀器，基體自動匹配>自動定性，半定量和定量分析，不同樣品測試譜圖可實時對比>光譜處理和校正，去除雙倍峰和逃逸峰干擾，降低元素吸收增強效應(yīng)影響>光譜背景扣除，有效提高微量元素檢測精度>可實時刷新測量結(jié)果>簡單的流程欄向?qū)Э蓭椭脩魟?chuàng)建新的自定義標定曲線>可定制化測試報告，一鍵打印

典型應(yīng)用測試報告

1.合金應(yīng)用案例采用壓片法制備樣品，硅鐵粉末樣品10次測試穩(wěn)定性報告

壓片樣品制備步驟：研磨制樣-稱重-混入粘合劑-使用壓片機壓片-上機測試

2.原材料應(yīng)用案例采用熔片法制備樣品，石灰石樣品10次測試穩(wěn)定性報告

快速熔片法樣品制備步驟：研磨制樣-稱樣-預(yù)氧化-加入熔樣試劑-熔片機熔片-冷卻-上機測試

3.礦石應(yīng)用案例采用熔片法制備樣品，石英砂10次測試穩(wěn)定性報告

典型石英砂XRF光譜圖