目錄:光焱科技股份有限公司>>傳感器檢測(cè)>>SPAD檢測(cè)>> SPD2200新型單光子偵測(cè)器特性分析設(shè)備
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更新時(shí)間：2025-03-27 12:01:04瀏覽次數(shù)：3983評(píng)價(jià)
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| 價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,汽車及零部件 |
|---|---|---|---|
| 暗計(jì)數(shù)(Dark?Count?Rate) | DCR | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
| 測(cè)量模式 | 咨詢光焱科技專家 |
SPD2200具備全光譜性能測(cè)試包含：
*全光譜光譜回應(yīng)（SR， Spectral Responsivity）
*全光譜量子效率（EQE， External Quantum Efficiency）
*全光譜光子探測(cè)率（PDP， Photon Detection Probability）
*暗計(jì)數(shù)DCR （Dark Count Rate）
*崩潰電壓BDV （Break-Down Voltage）
SPD2200亦能夠測(cè)試SPD的單光子辨析特性分析，包含：
*Jitter
*Afterpulsing probability
*Diffusion tail
*SNR
SPD2200整合了所有*進(jìn)光學(xué)與電學(xué)系統(tǒng)，搭配光焱科技多年光感測(cè)器測(cè)試與分析的經(jīng)驗(yàn)，提供完整與便利的軟體控制介面與分析功能。 SPD2200可幫助您節(jié)省系統(tǒng)搭設(shè)的時(shí)間成本，並降低測(cè)試結(jié)果的不確定性。 加快產(chǎn)品的開發(fā)週期，提升產(chǎn)品的競(jìng)爭(zhēng)力。
*SPAD的暗計(jì)數(shù)與偏壓關(guān)係圖
*SPAD暗計(jì)數(shù)與崩潰電壓
*在不同電壓下SPAD光子探測(cè)效率的PDE光譜
*SPAD的Jitter測(cè)量
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