鍍層測(cè)厚儀FT160

微束XRF涂層厚度和材料分析儀，方便快速進(jìn)行質(zhì)量控制和驗(yàn)證測(cè)試，在幾秒內(nèi)即可獲得準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)。

基于X-光熒光的涂層厚度和材料分析是業(yè)內(nèi)廣泛接受認(rèn)可的分析方法，提供易于使用、快速和無(wú)損的分析，幾乎不需要樣本制備，能夠分析元素周期表上從13Al 到92U 的固體或液體樣品。

鍍層測(cè)厚儀FT160
參數(shù)：

高分辨率 SDD

元素范圍： 鋁 - 鈾

樣品艙設(shè)計(jì)：開(kāi)閉式

XY 軸樣品臺(tái)選擇：自動(dòng)臺(tái)、晶片樣品臺(tái)

最大樣品尺寸：600 x 600 x 20 毫米

濾光片：1 或 3

毛細(xì)管聚焦光斑尺寸< 20µm

XRF控制器軟件

深圳市矢量科學(xué)儀器有限公司秉承“合作共贏，助力科研，促進(jìn)工業(yè)"的理念，信守“產(chǎn)品第一"的承諾，提供頂尖分離/分光分析、元素/物性檢測(cè)分析、表面檢測(cè)分析及生化檢測(cè)分析儀器，服務(wù)于科研、教育、醫(yī)院、藥業(yè)、石油、環(huán)保及生命科學(xué)等領(lǐng)域，公司以深圳為核心，在成都、武漢等地設(shè)有分公司，業(yè)務(wù)范圍輻射各地，涵蓋各科研院所、大學(xué)、醫(yī)院、生物制藥單位，食品化工、檢驗(yàn)檢測(cè)、環(huán)保行業(yè)以及加工制造業(yè)等。

本公司與日本HITACHI、美國(guó)Agilent、美國(guó)Thermo Fisher、德國(guó)Eppendorf等建立戰(zhàn)略合作關(guān)系，以華南區(qū)為核心，輻射各地進(jìn)行品牌推廣，產(chǎn)品銷售、售后服務(wù)，與清華大學(xué)、北京大學(xué)、武漢大學(xué)等全國(guó)名校建立了良好的合作關(guān)系。不斷優(yōu)化公司架構(gòu)模式，提高服務(wù)質(zhì)量及效率，致力于推動(dòng)前沿技術(shù)和產(chǎn)品的應(yīng)用，打造成為國(guó)內(nèi)較優(yōu)的儀器、裝備服務(wù)商以及制造商。